一种基于cspbbr3薄膜基板用光电性能检测系统
技术领域
1.本发明涉及光电技术领域，特别涉及一种基于cspbbr3薄膜基板用光电性能检测系统。
背景技术：2.近年来，一些钙钛矿结构的半导体材料，由于具有优良的光学吸收和电荷传导特性，成为目前太阳能电池领域的研究热点。相对于有机-无机杂化钙钛矿材料，全无机卤素钙钛矿材料(cspbx3，x＝cl，br，i)化学稳定性较高，且具有极高的荧光量子效率(高达90％)、荧光波长可调且覆盖整个可见光波段、线宽窄等特点，有望应用于新一代显示和照明技术中。此外，全无机钙钛矿材料具有极高的吸收系数，其光吸收能力比其它有机染料高10倍以上；而且它的八面体体系也有利于电子和空穴的传输，使得该材料具有高的载流子迁移率和较长的载流子寿命。
3.光电效应是指在高于某特定频率的电磁波照射下，某些物质内部的电子吸收能量后逸出而形成电流，即光生电。
4.经查阅文献得知，对于一种光电性能cspbbr3薄膜基板在生产中，需要对cspbbr3薄膜基板进行光电性能的检测时，虽然现有的检测系统能够精准的进行检测cspbbr3薄膜基板的故障点，但是不能根据cspbbr3薄膜基板上的故障点进行综合分析优化，进而cspbbr3薄膜基板上的故障点只能单独的优化，根据优化后的cspbbr3薄膜基板再进行检测，这样的方式不但造成cspbbr3薄膜基板检测时不能综合分析优化，造成cspbbr3薄膜基板检测优化的效率降低，也会造成cspbbr3薄膜基板在检测优化中造成浪费资源的弊端等问题。
技术实现要素：5.本发明的目的在于至少解决现有技术中存在的技术问题之一，提供一种基于cspbbr3薄膜基板用光电性能检测系统，能够解决cspbbr3薄膜基板上的故障点只能单独的优化，根据优化后的cspbbr3薄膜基板再进行检测，这样的方式不但造成cspbbr3薄膜基板检测时不能综合分析优化，造成cspbbr3薄膜基板检测优化的效率降低，也会造成cspbbr3薄膜基板在检测优化中造成浪费资源的弊端的问题。
6.为实现上述目的，本发明提供如下技术方案：一种基于cspbbr3薄膜基板用光电性能检测系统，包括终端系统，所述终端系统分别信号连接有控制模块、飞行模块和检测模块，控制模块、飞行模块和检测模块信号连接有测试模块，测试模块信号连接有故障点模块，故障点模块信号连接有成像模块，成像模块信号连接有显示端。
7.优选的，所述控制模块分别信号连接有测试夹具和电路设备。
8.优选的，所述测试夹具分别信号连接有一级光电设备、二级光电设备和三级光电设备，电路设备分别信号连接有一级电路模块、二级电路模块和三级电路模块。
9.优选的，所述检测模块分别信号连接有校正模块、分析模块和监测模块。
10.优选的，所述校正模块分别信号连接有编码模块和循环模块。
11.优选的，所述分析模块分别信号连接有极差分析模块和灵敏度分析模块。
12.优选的，所述监测模块分别信号连接有电压比模块和电流比模块。
13.优选的，所述成像模块分别信号连接有采集模块和计算模块。
14.优选的，所述采集模块分别信号连接有警告模块和记录模块，计算模块分别信号连接有储存模块和反馈模块。
15.与现有技术相比，本发明的有益效果是：
16.(1)、该基于cspbbr3薄膜基板用光电性能检测系统，通过利用采集模块上的警告模块和记录模块，以及计算模块上的储存模块和反馈模块相互配合采集和计算下，可以对实时抽检的cspbbr3薄膜基板进行数据的统计和分析，进而实现cspbbr3薄膜基板不足处得到整体分析和融合，以至于在后续生产中对综合分析的问题数据得到有效的改善，进而降低cspbbr3薄膜基板上故障点不能进行整合分析弊端，而造成cspbbr3薄膜基板后续生产中残次品不能得到控制的弊端，大大的提高了cspbbr3薄膜基板在抽检检测中能够整合采集和统计的便捷性。
17.(2)、该基于cspbbr3薄膜基板用光电性能检测系统，通过监测模块上的电压比模块和电流比模块对cspbbr3薄膜基板表体流动的电流和电压进行实时的监测下，可以快速的将cspbbr3薄膜基板上的电压比和电流比进行分析对比，进而对cspbbr3薄膜基板上存在偏差的电压和电流进行实时分析，进而对cspbbr3薄膜基板上的点和面进行精准且便捷的反应计算。
18.(3)、该基于cspbbr3薄膜基板用光电性能检测系统，通过极差分析模块和灵敏度分析模块相互配合使用下，可以精确的将cspbbr3薄膜基板上的电压接入最小系数以及最大系数得到统计，同时也通过极差分析模块的统计下，通过信号的反馈实现cspbbr3薄膜基板上电压感应的灵敏度，进而检测出cspbbr3薄膜基板是否满足生产标准。
19.(4)、该基于cspbbr3薄膜基板用光电性能检测系统，通过利用校正模块上的编码模块和循环模块可以实现对不同型号的cspbbr3薄膜基板检测时，进行高精度的编码循环，进而保障cspbbr3薄膜基板在进行检测输送中具备精准的定位，以及适配的测试夹具和电路设备进行对接使用。
20.(5)、该基于cspbbr3薄膜基板用光电性能检测系统，通过利用控制模块分别控制测试夹具和电路设备进行使用时，可以有效的对测试夹具和电路设备上的各级光电设备一级电路模块实现分配使用，进而保障对不同型号的cspbbr3薄膜基板检测使用时，可以准确的进行cspbbr3薄膜基板分流和分压，进而保障不同型号的cspbbr3薄膜基板检测时的精准性，保障了cspbbr3薄膜基板检测时具备高性能的适配。
21.(6)、该基于cspbbr3薄膜基板用光电性能检测系统，通过终端系统对cspbbr3薄膜基板进行光电性能检测时，利用终端系统上的飞行模块的控制下，当故障点模块对检测的cspbbr3薄膜基板发现光电性能不稳定时，且故障点模块发出的警报信号强度高于正常的警报信号强度时，终端系统将自动反馈信号给飞行模块，进而终端系统通过飞行系统的关闭，实现终端系统的控制模块和检测模块进行断电，进而实现整个检测系统的关闭，这样的方式保障了cspbbr3薄膜基板检测时具备良好的防护效果，保障了cspbbr3薄膜基板检测时出现不可逆的漏电风险时，终端系统会启动断电保护，而最终的成像图纸会反馈在显示端。
附图说明
22.下面结合附图和实施例对本发明进一步地说明：
23.图1为本发明一种基于cspbbr3薄膜基板用光电性能检测系统框图。
具体实施方式
24.本部分将详细描述本发明的具体实施例，本发明之较佳实施例在附图中示出，附图的作用在于用图形补充说明书文字部分的描述，使人能够直观地、形象地理解本发明的每个技术特征和整体技术方案，但其不能理解为对本发明保护范围的限制。
25.在本发明的描述中，需要理解的是，涉及到方位描述，例如上、下、前、后、左、右等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本发明和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本发明的限制。
26.在本发明的描述中，大于、小于、超过等理解为不包括本数，以上、以下、以内等理解为包括本数。如果有描述到第一、第二只是用于区分技术特征为目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量或者隐含指明所指示的技术特征的先后关系。
27.本发明的描述中，除非另有明确的限定，设置、安装、连接等词语应做广义理解，所属技术领域技术人员可以结合技术方案的具体内容合理确定上述词语在本发明中的具体含义。
28.请参阅图1，本发明提供一种技术方案：一种基于cspbbr3薄膜基板用光电性能检测系统，包括终端系统，终端系统分别信号连接有控制模块、飞行模块和检测模块，控制模块、飞行模块和检测模块信号连接有测试模块，测试模块信号连接有故障点模块，故障点模块信号连接有成像模块，成像模块信号连接有显示端，通过终端系统对cspbbr3薄膜基板进行光电性能检测时，利用终端系统上的飞行模块的控制下，当故障点模块对检测的cspbbr3薄膜基板发现光电性能不稳定时，且故障点模块发出的警报信号强度高于正常的警报信号强度时，终端系统将自动反馈信号给飞行模块，进而终端系统通过飞行系统的关闭，实现终端系统的控制模块和检测模块进行断电，进而实现整个检测系统的关闭，这样的方式保障了cspbbr3薄膜基板检测时具备良好的防护效果，保障了cspbbr3薄膜基板检测时出现不可逆的漏电风险时，终端系统会启动断电保护，而最终的成像图纸会反馈在显示端。
29.进一步地，控制模块分别信号连接有测试夹具和电路设备，测试夹具分别信号连接有一级光电设备、二级光电设备和三级光电设备，电路设备分别信号连接有一级电路模块、二级电路模块和三级电路模块，通过利用控制模块分别控制测试夹具和电路设备进行使用时，可以有效的对测试夹具和电路设备上的各级光电设备一级电路模块实现分配使用，进而保障对不同型号的cspbbr3薄膜基板检测使用时，可以准确的进行cspbbr3薄膜基板分流和分压，进而保障不同型号的cspbbr3薄膜基板检测时的精准性，保障了cspbbr3薄膜基板检测时具备高性能的适配。
30.进一步地，检测模块分别信号连接有校正模块、分析模块和监测模块，校正模块分别信号连接有编码模块和循环模块，通过利用校正模块上的编码模块和循环模块可以实现对不同型号的cspbbr3薄膜基板检测时，进行高精度的编码循环，进而保障cspbbr3薄膜基
板在进行检测输送中具备精准的定位，以及适配的测试夹具和电路设备进行对接使用。
31.进一步地，分析模块分别信号连接有极差分析模块和灵敏度分析模块，通过极差分析模块和灵敏度分析模块相互配合使用下，可以精确的将cspbbr3薄膜基板上的电压接入最小系数以及最大系数得到统计，同时也通过极差分析模块的统计下，通过信号的反馈实现cspbbr3薄膜基板上电压感应的灵敏度，进而检测出cspbbr3薄膜基板是否满足生产标准。
32.进一步地，监测模块分别信号连接有电压比模块和电流比模块，通过监测模块上的电压比模块和电流比模块对cspbbr3薄膜基板表体流动的电流和电压进行实时的监测下，可以快速的将cspbbr3薄膜基板上的电压比和电流比进行分析对比，进而对cspbbr3薄膜基板上存在偏差的电压和电流进行实时分析，进而对cspbbr3薄膜基板上的点和面进行精准且便捷的反应计算。
33.进一步地，成像模块分别信号连接有采集模块和计算模块，采集模块分别信号连接有警告模块和记录模块，计算模块分别信号连接有储存模块和反馈模块，通过利用采集模块上的警告模块和记录模块，以及计算模块上的储存模块和反馈模块相互配合采集和计算下，可以对实时抽检的cspbbr3薄膜基板进行数据的统计和分析，进而实现cspbbr3薄膜基板不足处得到整体分析和融合，以至于在后续生产中对综合分析的问题数据得到有效的改善，进而降低cspbbr3薄膜基板上故障点不能进行整合分析弊端，而造成cspbbr3薄膜基板后续生产中残次品不能得到控制的弊端，大大的提高了cspbbr3薄膜基板在抽检检测中能够整合采集和统计的便捷性。
34.上面结合附图对本发明实施例作了详细说明，但是本发明不限于上述实施例，在所述技术领域普通技术人员所具备的知识范围内，还可以在不脱离本发明宗旨的前提下作出各种变化。
技术特征：1.一种基于cspbbr3薄膜基板用光电性能检测系统，包括终端系统，其特征在于：所述终端系统分别信号连接有控制模块、飞行模块和检测模块，控制模块、飞行模块和检测模块信号连接有测试模块，测试模块信号连接有故障点模块，故障点模块信号连接有成像模块，成像模块信号连接有显示端。2.根据权利要求1所述的一种基于cspbbr3薄膜基板用光电性能检测系统，其特征在于：所述控制模块分别信号连接有测试夹具和电路设备。3.根据权利要求2所述的一种基于cspbbr3薄膜基板用光电性能检测系统，其特征在于：所述测试夹具分别信号连接有一级光电设备、二级光电设备和三级光电设备，电路设备分别信号连接有一级电路模块、二级电路模块和三级电路模块。4.根据权利要求1所述的一种基于cspbbr3薄膜基板用光电性能检测系统，其特征在于：所述检测模块分别信号连接有校正模块、分析模块和监测模块。5.根据权利要求4所述的一种基于cspbbr3薄膜基板用光电性能检测系统，其特征在于：所述校正模块分别信号连接有编码模块和循环模块。6.根据权利要求4所述的一种基于cspbbr3薄膜基板用光电性能检测系统，其特征在于：所述分析模块分别信号连接有极差分析模块和灵敏度分析模块。7.根据权利要求4所述的一种基于cspbbr3薄膜基板用光电性能检测系统，其特征在于：所述监测模块分别信号连接有电压比模块和电流比模块。8.根据权利要求1所述的一种基于cspbbr3薄膜基板用光电性能检测系统，其特征在于：所述成像模块分别信号连接有采集模块和计算模块。9.根据权利要求8所述的一种基于cspbbr3薄膜基板用光电性能检测系统，其特征在于：所述采集模块分别信号连接有警告模块和记录模块，计算模块分别信号连接有储存模块和反馈模块。
技术总结本发明公开了一种基于CsPbBr3薄膜基板用光电性能检测系统，涉及光电技术领域，一种基于CsPbBr3薄膜基板用光电性能检测系统，包括终端系统，所述终端系统分别信号连接有控制模块、飞行模块和检测模块，控制模块、飞行模块和检测模块信号连接有测试模块，该基于CsPbBr3薄膜基板用光电性能检测系统，可以对实时抽检的CsPbBr3薄膜基板进行数据的统计和分析，进而实现CsPbBr3薄膜基板不足处得到整体分析和融合，以至于在后续生产中对综合分析的问题数据得到有效的改善，进而降低CsPbBr3薄膜基板上故障点不能进行整合分析弊端，而造成CsPbBr3薄膜基板后续生产中残次品不能得到控制的弊端，大大的提高了CsPbBr3薄膜基板在抽检检测中能够整合采集和统计的便捷性。检检测中能够整合采集和统计的便捷性。检检测中能够整合采集和统计的便捷性。
技术研发人员：彭健 徐昌明 张暹阳 方锐
受保护的技术使用者：武汉理工大学
技术研发日：2022.04.07
技术公布日：2022/7/5
