1.本实用新型涉及测试技术领域，特别是涉及一种顶升测试装置。
背景技术：2.随着科技的发展，电子产品的测试设备的需求量也逐渐增加，且对芯片测试的设备也越来越严格，当前，在对电子产品进行测试时，预先将产品放入测试座中，在由测试座下部的浮动探针进行接触测试，现有的浮动测试装置在对产品进行浮动测试时，浮动位置存在偏差，浮动不易调节，探针与产品硬接触，接触位置无法缓冲，甚至造成产品的损坏。
技术实现要素：3.基于此，有必要针对上述背景技术中的问题，提供一种顶升测试装置，顶升机构测试时可浮动调节，浮动接触产品，测试效果好，防止产品损坏。
4.为实现上述目的及其他目的，本技术提供一种顶升测试装置，包括：支架、设置在支架上的测试底板、连接在测试底板上的测试座、设置在测试座上的测试孔和设置在测试底板下侧的顶升机构，所述顶升机构被配置为用于穿过测试底板伸入测试孔内；其中，所述顶升机构包括升降驱动、连接在升降驱动上的一级浮动结构、连接在一级浮动结构上的二级浮动结构和设置在二级浮动结构上的顶针结构，所述顶针结构被配置为用于伸入测试孔内以接触待测产品。
5.优选地，所述测试底板上设置有浮动通槽，所述浮动通槽被配置为用于二级浮动结构的避让。
6.优选地，所述二级浮动结构上设置有屏蔽环结构。
7.优选地，所述一级浮动结构包括连接在升降驱动上的浮动底板、设置在浮动底板上的第一固定件和设置在第一固定件上的一级浮动板，所述第一固定件上套设在有与一级浮动板相抵的第一浮动件。
8.优选地，所述二级浮动结构包括设置在一级浮动板上的第二固定件和连接在第二固定件上的二级浮动板，所述二级浮动板内嵌入有与一级浮动板相抵的第二浮动件。
9.优选地，所述顶针结构包括设置在二级浮动板上的顶针导向件、滑动设置在顶针导向件顶端的顶针和套设在顶针导向件上第三浮动件。
10.优选地，所述二级浮动板与一级浮动板之间设置有导向件，所述导向件被配置为用于二级浮动板与一级浮动板的浮动导向。
11.优选地，所述支架上设置有抖动机构，所述抖动机构被配置为用于推动测试底板以便测试座上的产品准确进入测试位。
12.优选地，所述抖动机构包括抖动驱动和连接在抖动驱动上的抖动头。
13.优选地，所述支架上设置有传感器，所述传感器被配置为用于与测试孔相对应。
14.本实用新型的有益效果如下：
15.1、顶升测试装置上测试座中的产品有由顶升机构浮动接触测试，自动顶升，调节
可调节，取代了原有的硬接触测试，测试效果好，防止产品损坏；
16.2、顶升测试装置上的顶升机构包括一级浮动结构和二级浮动结构，顶升浮动时，一级浮动结构和二级浮动结构自生调节，与产品缓冲接触，抵消一定误差，测试精准；
17.3、顶升测试装置上的二级浮动结构上设置有屏蔽环结构，在产品测试时，不受信号干扰，产品测试效果好；
18.4、顶升测试装置上的抖动机构在产品待检测时，对测试座上的测试孔内的产品进行抖动调节，保证产品在测试座中定位精准，顶升测试装置上的传感器对测试孔内进行产品有无检测，产品测试快速。
附图说明
19.为了更清楚地说明本技术实施例的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他实施例的附图。
20.图1为本实用新型一种顶升测试装置的结构示意图；
21.图2为本实用新型一种顶升测试装置的俯视图；
22.图3为图2中a-a处的剖面结构示意图；
23.图4为本实用新型一种顶升测试装置的测试底座的结构示意图；
24.图5为本实用新型一种顶升测试装置的顶升机构的结构示意图；
25.图6为本实用新型一种顶升测试装置的顶升机构的剖面结构示意图；
26.图7为本实用新型一种顶升测试装置的顶针结构的结构示意图。
具体实施方式
27.为了更清楚地说明本实用新型，下面结合优选实施例和附图对本实用新型做进一步的说明。附图中相似的部件以相同的附图标记进行表示。本领域技术人员应当理解，下面所具体描述的内容是说明性的而非限制性的，不应以此限制本实用新型的保护范围。
28.现有技术中，测试装置在对产品进行接触测试时，测试探针与产品为硬接触检测，探针无法浮动调节，造成测试效果差，甚至造成产品损坏。
29.为解决上述问题，如图1-5所示，本实用新型实施例提供一种顶升测试装置，包括：支架1、设置在支架1上的测试底板2、连接在测试底板2上的测试座3、设置在测试座3上的测试孔4和设置在测试底板2下侧的顶升机构5，所述顶升机构5被配置为用于穿过测试底板2伸入测试孔4内；其中，所述顶升机构5包括升降驱动51、连接在升降驱动51上的一级浮动结构52、连接在一级浮动结构52上的二级浮动结构53和设置在二级浮动结构53上的顶针结构54，所述顶针结构54被配置为用于伸入测试孔4内以接触待测产品。
30.本实用新型提供的顶升测试装置中，待测产品置于测试座3的测试孔4内，顶升机构5上的升降驱动51驱动一级浮动结构52和二级浮动结构53浮动顶升，二级浮动结构53上的顶针结构54伸入测试孔4内以接触待测产品完成测试，升降驱动51采用气缸进行一级浮动结构52和二级浮动结构53的顶升，自动化程度高。
31.具体地，在顶升机构5对测试座3上产品进行接触之前，为了保证测试座3上的测试
孔4内的产品放置到位、进准，所述支架1上设置有抖动机构6，所述抖动机构6被配置为用于推动测试底板2以便测试座3上的产品准确进入测试位，进一步地，所述抖动机构6包括抖动驱动61和连接在抖动驱动61上的抖动头62，抖动头62为柔性头，在由抖动驱动61带动对测试底板2进行抖动时，不会对测试底板2造成损坏，抖动效果好。
32.同时，所述支架1上设置有传感器7，所述传感器7被配置为用于与测试孔4相对应，在检测时，由传感器7进行产品的有无感应，配合顶升测试装置进行自动化测试。
33.进一步地，所述测试底板2上设置有浮动通槽21，所述浮动通槽21被配置为用于二级浮动结构53的避让，在二级浮动结构53带动顶针结构54伸入测试孔4内时，二级浮动结构53顶升至测试底板2的浮动通槽21内，浮动通槽2对二级浮动结构53有一个导向定位，二级浮动结构53浮动位置精确，浮动效果好。
34.进一步地，所述二级浮动结构53上设置有屏蔽环结构55，在二级浮动结构53带动顶针结构54进行接触的同时，屏蔽环结构55排除测试环境外的信号干扰，产品测试效果好。
35.在本优选实施方式中，如图6所示，所述一级浮动结构52包括连接在升降驱动51上的浮动底板521、设置在浮动底板521上的第一固定件522和设置在第一固定件522上的一级浮动板523，所述第一固定件522上套设在有与一级浮动板523相抵的第一浮动件524。
36.其中，一级浮动结构52在进行浮动时，升降驱动51驱动浮动底板521进行顶升，浮动底板521上通过第一固定件522安装有一级浮动板523，第一固定件522上的第一浮动件524控制一级浮动板523浮动
37.在本优选实施方式中，所述二级浮动结构53包括设置在一级浮动板523上的第二固定件531和连接在第二固定件531上的二级浮动板532，所述二级浮动板532内嵌入有与一级浮动板523相抵的第二浮动件533。
38.其中，二级浮动结构53上的二级浮动板532通过第二固定件531固定在一级浮动板523上，二级浮动板532与一级浮动板523通过第二浮动件533进行控制浮动。
39.具体的，在进行顶升机构5进行浮动接触时，待测产品放入测试孔4内，升降启动51带动一级浮动结构52和二级浮动结构53顶升，二级浮动结构53伸入测试底板2的浮动通槽21内进行导向定位，顶针结构54伸入测试孔内，一级浮动结构52和二级浮动结构53配合进行顶针结构54的调节浮动，与待测产品进行接触时，取代了原有的硬接触的方式，对待测产品有一定的缓冲，接触效果好，不会使待测产品有损坏的风险，在浮动接触的时候，可以自生调节抵消装置加工的误差，浮动效果好。
40.进一步地，所述二级浮动板532与一级浮动板523之间设置有导向件56，所述导向件56被配置为用于二级浮动板532与一级浮动板523的浮动导向，在二级浮动板532与一级浮动板523配合浮动时，在导向件56的定位导向下，二级浮动板532与一级浮动板523浮动位置精确，不会产生浮动偏差。
41.在本优选实施方式中，如图7所示，所述顶针结构54包括设置在二级浮动板532上的顶针导向件541、滑动设置在顶针导向件541顶端的顶针542和套设在顶针导向件541上第三浮动件543，具体的，在对测试孔4内的待测产品进行接触测试时，由顶针结构54上的顶针导向件541带动顶针542进行待测产品的接触，在二级浮动板532与一级浮动板523配合浮动时，顶针542在第三浮动件543的作用下同时可以实现浮动，浮动效果好，测试稳定。
42.需要说明的是，在本技术的描述中，术语“上”、“下”等指示的方位或位置关系为基
于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本技术和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本技术的限制。除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“相连”、“连接”应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或一体地连接；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通。对于本领域的普通技术人员而言，可以根据具体情况理解上述术语在本技术中的具体含义。
43.还需要说明的是，在本技术的描述中，诸如第一和第二等之类的关系术语仅仅用来将一个实体或者操作与另一个实体或操作区分开来，而不一定要求或者暗示这些实体或操作之间存在任何这种实际的关系或者顺序。而且，术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者设备不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种过程、方法、物品或者设备所固有的要素。在没有更多限制的情况下，由语句“包括一个
……”
限定的要素，并不排除在包括所述要素的过程、方法、物品或者设备中还存在另外的相同要素。
44.显然，本实用新型的上述实施例仅仅是为清楚地说明本实用新型所作的举例，而并非是对本实用新型的实施方式的限定，对于所述领域的普通技术人员来说，在上述说明的基础上还可以做出其它不同形式的变化或变动，这里无法对所有的实施方式予以穷举，凡是属于本实用新型的技术方案所引伸出的显而易见的变化或变动仍处于本实用新型的保护范围之列。
技术特征：1.一种顶升测试装置，其特征在于，包括：支架（1）、设置在支架（1）上的测试底板（2）、连接在测试底板（2）上的测试座（3）、设置在测试座（3）上的测试孔（4）和设置在测试底板（2）下侧的顶升机构（5），所述顶升机构（5）被配置为用于穿过测试底板（2）伸入测试孔（4）内；其中，所述顶升机构（5）包括升降驱动（51）、连接在升降驱动（51）上的一级浮动结构（52）、连接在一级浮动结构（52）上的二级浮动结构（53）和设置在二级浮动结构（53）上的顶针结构（54），所述顶针结构（54）被配置为用于伸入测试孔（4）内以接触待测产品。2.根据权利要求1所述的顶升测试装置，其特征在于，所述测试底板（2）上设置有浮动通槽（21），所述浮动通槽（21）被配置为用于二级浮动结构（53）的避让。3.根据权利要求1所述的顶升测试装置，其特征在于，所述二级浮动结构（53）上设置有屏蔽环结构（55）。4.根据权利要求1所述的顶升测试装置，其特征在于，所述一级浮动结构（52）包括连接在升降驱动（51）上的浮动底板（521）、设置在浮动底板（521）上的第一固定件（522）和设置在第一固定件（522）上的一级浮动板（523），所述第一固定件（522）上套设在有与一级浮动板（523）相抵的第一浮动件（524）。5.根据权利要求4所述的顶升测试装置，其特征在于，所述二级浮动结构（53）包括设置在一级浮动板（523）上的第二固定件（531）和连接在第二固定件（531）上的二级浮动板（532），所述二级浮动板（532）内嵌入有与一级浮动板（523）相抵的第二浮动件（533）。6.根据权利要求5所述的顶升测试装置，其特征在于，所述顶针结构（54）包括设置在二级浮动板（532）上的顶针导向件（541）、滑动设置在顶针导向件（541）顶端的顶针（542）和套设在顶针导向件（541）上第三浮动件（543）。7.根据权利要求6所述的顶升测试装置，其特征在于，所述二级浮动板（532）与一级浮动板（523）之间设置有导向件（56），所述导向件（56）被配置为用于二级浮动板（532）与一级浮动板（523）的浮动导向。8.根据权利要求1所述的顶升测试装置，其特征在于，所述支架（1）上设置有抖动机构（6），所述抖动机构（6）被配置为用于推动测试底板（2）以便测试座（3）上的产品准确进入测试位。9.根据权利要求8所述的顶升测试装置，其特征在于，所述抖动机构（6）包括抖动驱动（61）和连接在抖动驱动（61）上的抖动头（62）。10.根据权利要求1所述的顶升测试装置，其特征在于，所述支架（1）上设置有传感器（7），所述传感器（7）被配置为用于与测试孔（4）相对应。
技术总结本实用新型涉及一种顶升测试装置，包括：支架、设置在支架上的测试底板、连接在测试底板上的测试座、设置在测试座上的测试孔和设置在测试底板下侧的顶升机构，所述顶升机构被配置为用于穿过测试底板伸入测试孔内；其中，所述顶升机构包括升降驱动、连接在升降驱动上的一级浮动结构、连接在一级浮动结构上的二级浮动结构和设置在二级浮动结构上的顶针结构，所述顶针结构被配置为用于伸入测试孔内以接触待测产品。本实用新型的有益效果如下：顶升测试装置上测试座中的产品有由顶升机构浮动接触测试，自动顶升，调节可调节，取代了原有的硬接触测试，测试效果好，防止产品损坏。防止产品损坏。防止产品损坏。
技术研发人员：蔡灿承 庄爱萍 冯利民
受保护的技术使用者：苏州华兴源创科技股份有限公司
技术研发日：2022.01.05
技术公布日：2022/7/5
