1.本实用新型涉及半导体测试设备维护领域，尤其涉及一种测试机转接板。
背景技术：2.集成电路的性能测试设备主要包括测试机、分选机和探针台等。作为重要的专用设备，集成电路测试设备不仅可判断被测芯片或器件的合格性，还可提供关于设计、制造过程的薄弱环节信息，有助于提高芯片制造水平。在测试过程中探针台和分选机的作用比较相似，两者进行转接使用的转接板接触很重要，都是用作产品和测试机连接的媒介，测试机是测试过程中最重要的装备，它的作用是判断产品参数和功能的有效性。现有的转接板通常是采用导线与转接板连接的，插拔十分不方便，且容易造成导线脱落接触不良，除此之外，还存在不同种类的板卡插错卡槽的问题，没有实现防呆的功能。对于测试不同种类的集成电路，不能实现测试的通用性。
技术实现要素：3.为了对于不同种类的集成电路都能实现转接测试的功能，以及实现转接方便，避免不同种类的板卡插错卡槽的问题，本实用新型采用以下技术方案：
4.一种测试机转接板，包括plc板，所述plc板内置连接有芯片，所述plc 板上设置有若干个转接器，待检测的子板插装于所述转接器内与所述芯片电连接，所述plc板侧面开设有若干连接槽，测试机通过转接插头插入所述连接槽与所述芯片电连接。
5.具体的，在所述plc板上的tbus,lpc0,sqpg,dps,pmu位置处设置固定插槽。
6.具体的，芯片的型号为max4280。
7.具体的，芯片包括第一芯片、第二芯片和第三芯片，
8.每一个芯片的第一管脚和第二管脚连接，且所述第一管脚外接5v电源；第九管脚、第十八管脚、第十二管脚、第二十一管脚分别接地；第五管脚、第七管脚、第十管脚分别与所述转接器连接；第十一管脚、第十三管脚、第十四管脚、第十七管脚、第十九管脚、第二十管脚分别与所述连接槽连接；
9.且所述第一芯片、所述第二芯片和所述第三芯片的第三管脚相互连接；
10.所述第一芯片、所述第二芯片和所述第三芯片的第四管脚相互连接；
11.所述第一芯片、所述第二芯片和所述第三芯片的第六管脚相互连接。
12.具体的，每个芯片的第十五管脚外接5v电源，且第一管脚以及第十五管脚分别连接有一个电容，所述电容的另一端接地。
13.具体的，转接器上开设有多个引脚孔。
14.从上面描述可得，该装置具有以下优点：通过该转接板实现了对于不同种类的集成电路芯片都能进行转接测试的功能。相比以前通过导线连接，现在改换成转接器插拔连接，转接方便。同时在插槽上限制了对应测试机连接位置避免不同种类的板卡插错卡槽的问题。
附图说明
15.图1是一种测试机转接板的结构示意图；
16.图2是一种测试机转接板中插槽的结构示意图；
17.图3是一种测试机转接板中第一芯片的电路图；
18.图4是一种测试机转接板中第二芯片的电路图；
19.图5是一种测试机转接板中第三芯片的电路图；
20.附图标记：1转接器；2plc板。
具体实施方式
21.下面结合图1至图对本实用新型做进一步说明。
22.一种测试机转接板，包括plc板2，plc板2内置连接有芯片，plc板2上设置有七个转接器1，每个转换器上开设有引脚孔，待检测的子板的引脚插装于转接器1的引脚孔内与芯片电连接，plc板2侧面开设有若干连接槽，测试机通过转接插头插入连接槽内与芯片电连接。这样实现了待测芯片与测试机之间的测试连接，从而通过测试机来实现开路断路检验及对测试机是否匹配进行检测。
23.其中plc板2内置连接有芯片的型号为max4280，且芯片总共有三个，分别为第一芯片、第二芯片和第三芯片。为了实现待测芯片与测试机之间通过转接板连接，所以这三个芯片的连接方式如下：
24.每一个芯片的第一管脚和第二管脚连接，且第一管脚外接5v电源；第九管脚、第十八管脚、第十二管脚、第二十一管脚分别接地；第五管脚、第七管脚、第十管脚分别与转接器1连接；第十一管脚、第十三管脚、第十四管脚、第十七管脚、第十九管脚、第二十管脚分别与连接槽连接；且第一芯片、第二芯片和第三芯片的第三管脚相互连接；第一芯片、第二芯片和第三芯片的第四管脚相互连接；
25.第一芯片、第二芯片和第三芯片的第六管脚相互连接，实现三个芯片之间的连通。为了减少信号干扰，每个芯片的第十五管脚外接5v电源，且第一管脚以及第十五管脚分别连接有一个10μf电容，电容的另一端接地。
26.为了解决不同种类的板卡插错插槽的问题，所以在plc板上的tbus、lpc0、 sqpg、dps、pmu位置处设置固定插槽，在lpc1至lpc8的位置处为选购板卡的插槽。
27.该转接板的工作原理为：将待测芯片插入转换器中，然后将测试机与插槽通过转换头连接，然后测试机进行测试。
28.从上面描述可得，该装置具有以下优点：通过该转接板实现了对于不同种类的集成电路芯片都能进行转接测试的功能。相比以前通过导线连接，现在改换成转接器插拔连接，转接方便。同时在插槽上限制了对应测试机连接位置避免不同种类的板卡插错卡槽的问题。
29.可以理解的是，以上关于本实用新型的具体描述，仅用于说明本实用新型而并非受限于本实用新型实施例所描述的技术方案。本领域的普通技术人员应当理解，仍然可以对本实用新型进行修改或等同替换，以达到相同的技术效果；只要满足使用需要，都在本实用新型的保护范围之内。
技术特征：1.一种测试机转接板，其特征在于，包括plc板，所述plc板内置连接有芯片，所述plc板上设置有若干个转接器，待检测的子板插装于所述转接器内与所述芯片电连接，所述plc板侧面开设有若干连接槽，测试机通过转接插头插入所述连接槽与所述芯片电连接。2.根据权利要求1所述一种测试机转接板，其特征在于,在所述plc板上的tbus,lpc0,sqpg,dps,pmu位置处设置固定插槽。3.根据权利要求1所述一种测试机转接板，其特征在于,所述芯片的型号为max4280。4.根据权利要求3所述一种测试机转接板，其特征在于,所述芯片包括第一芯片、第二芯片和第三芯片，每一个芯片的第一管脚和第二管脚连接，且所述第一管脚外接5v电源；第九管脚、第十八管脚、第十二管脚、第二十一管脚分别接地；第五管脚、第七管脚、第十管脚分别与所述转接器连接；第十一管脚、第十三管脚、第十四管脚、第十七管脚、第十九管脚、第二十管脚分别与所述连接槽连接；且所述第一芯片、所述第二芯片和所述第三芯片的第三管脚相互连接；所述第一芯片、所述第二芯片和所述第三芯片的第四管脚相互连接；所述第一芯片、所述第二芯片和所述第三芯片的第六管脚相互连接。5.根据权利要求4所述一种测试机转接板，其特征在于,每个芯片的第十五管脚外接5v电源，且第一管脚以及第十五管脚分别连接有一个电容，所述电容的另一端接地。6.根据权利要求1所述一种测试机转接板，其特征在于,所述转接器上开设有多个引脚孔。
技术总结一种测试机转接板，涉及半导体测试设备维护领域，PLC板内置连接有芯片，PLC板上设置有若干个转接器，待检测的子板插装于转接器内与芯片电连接，PLC板侧面开设有若干连接槽，测试机通过转接插头插入连接槽与芯片电连接。该转接板实现了对于不同种类的集成电路都能实现转接测试的功能，相比以前通过导线连接，现在改换成转接器插拔连接，转接方便。转接方便。转接方便。
技术研发人员：赵坤鹏 刘栋栋 嵇伟康 史小奇
受保护的技术使用者：无锡伟测半导体科技有限公司
技术研发日：2021.12.30
技术公布日：2022/7/4
