本发明涉及经由快速频率扫描进行聚合物流变表征的方法，并且特别地涉及一种用于适配用于聚合物产品的频率扫描测量的操作设定的方法和装置。
背景技术：
1、为了在生产期间监测和控制聚合物的性质，需要以固定的时间间隔来收集反应器样品并且利用所选的材料表征方法或参数表征方法对反应器样品进行表征，从而限定了操纵性的移动。
2、对于典型的常用反应器来说，通常每4至6小时的测量反馈频率将表征方法的选择仅限于在该时间范围内提供结果的那些方法。例如，总测量时间包括样品采集、样品制备、测量准备、样品加热和实际测量。此外，还应用了与技术专业水平和工厂资源相连接的附加限制。
3、理想地，需要知道实际分子量分布，因为它是所有次级性质(流变性质、机械性质)的基础。然而，在实践中，这对于全规模的工厂环境(在专业技能人员、材料和长测量时间方面所需的高水平资源)来说是禁止的。
4、因此，需要改进当前聚合物反应器中使用的聚合物流变表征。
技术实现思路
1、前述和其他目的由独立权利要求所限定的本发明的主题来解决。另外的实施例由从属权利要求限定。
2、根据本发明的第一方面，提供了一种方法，一种用于适配用于聚合物产品的频率扫描测量的操作设定的方法。
3、该方法包括以下步骤：提供至少一组操作设定参数，该至少一组操作设定参数包括用于聚合物产品的频率扫描测量的至少一个频率范围，该至少一个频率范围包括多个特定测量频率。
4、该方法包括以下步骤：通过删除多个特定测量频率中的在频率范围的下半部分内的至少一个测量频率来优化频率范围，从而产生第一优化的频率范围。
5、该方法包括以下步骤：通过确定在频率范围的至少一个子范围内的每十进位(decade)频率存在的测量频率的值并且通过删除至少一个子范围的至少一个测量频率来减少在频率范围的至少一个子范围内的每十进位存在的测量频率的所确定的值来优化第一优化的频率范围，从而产生第二优化的频率范围。
6、换句话说，本发明有利地提供了用于频率扫描测量的一组特殊操作设定，该一组特殊操作设定导致测量时间的显著减少，同时将方法精度保持在用于工厂控制需求的足够的水平。
7、进一步地，本发明有利地允许设定导致测量时间的显著减少。
8、根据本发明的一个示例性实施例，在通过删除至少一个测量频率来优化频率范围的步骤之后，通过将剩余的特定测量频率均等分布在频率范围的下半部分内或完整频率范围内来进一步优化第一优化的频率范围。
9、根据本发明的一个示例性实施例，在优化第一优化的频率范围的步骤之后，通过将剩余的特定测量频率均等分布在频率范围的子范围内或完整频率范围内来进一步优化第二优化的频率范围。
10、根据本发明的一个示例性实施例，该方法进一步包括通过使用第二优化的频率范围将计算的复数粘度值与测量的熔体流动指数值进行比较来验证第二优化的频率范围的一致性的步骤。
11、根据本发明的一个示例性实施例，该方法进一步包括将第二优化的频率范围应用于聚合物产品的质量控制测量的步骤。
12、根据本发明的一个示例性实施例，该方法进一步包括将第二优化的频率范围应用于当前采用的熔体流动指数测量的步骤。这个步骤可以与前面提到的将第二优化的频率范围应用于聚合物产品的质量控制测量的步骤相组合。
13、根据本发明的一个示例性实施例，该方法进一步包括针对聚合物产品的感兴趣的特定聚合物等级生成第二优化的频率范围的步骤。
14、根据本发明的一个示例性实施例，通过针对聚合物产品的感兴趣的特定聚合物等级生成第二优化的频率范围，定义了用于特定聚合物等级的频率扫描指纹。
15、根据本发明的一个示例性实施例，该一组操作设定参数包括至少一个剪切速率。
16、根据本发明的第二方面，提供了一种计算机程序产品，该计算机程序产品包括计算机可读指令，当该计算机可读指令被处理器加载并执行时，该计算机可读指令执行根据第一方面的任一实施例或第一方面本身的方法。
17、根据本发明的第三方面，提供了一种装置，该装置被配置为适配用于聚合物产品的频率扫描测量的操作设定，该装置包括数据存储器和处理器。
18、该数据存储器被配置为提供至少一组操作设定参数，该至少一组操作设定参数包括用于聚合物产品的频率扫描测量的至少一个频率范围，该至少一个频率范围包括多个特定测量频率。
19、该处理器被配置为通过删除多个特定测量频率中的在频率范围的下半部分内的至少一个测量频率来优化频率范围，从而产生第一优化的频率范围。
20、该处理器被配置为通过确定在频率范围的至少一个子范围内的每十进位频率存在的测量频率的值并且通过删除至少一个子范围的至少一个测量频率来减少在频率范围的至少一个子范围内的每十进位存在的测量频率的所确定的值来优化第一优化的频率范围，从而产生第二优化的频率范围。
21、根据本发明的一个实施例，该处理器进一步被配置为通过将剩余的特定测量频率均等分布在频率范围的下半部分内或完整频率范围内来优化第一优化的频率范围。
22、根据本发明的一个实施例，该处理器进一步被配置为通过将剩余的特定测量频率均等分布在频率范围的子范围内或完整频率范围内来优化第二优化的频率范围。
23、根据本发明的一个实施例，该处理器进一步被配置为将第二优化的频率范围应用于聚合物产品的质量控制测量。
24、根据本发明的一个实施例，该处理器进一步被配置为将第二优化的频率范围应用于当前采用的熔体流动指数测量。
25、执行本发明的方法的计算机程序可以存储在计算机可读介质上。计算机可读介质可以是软盘、硬盘、cd、dvd、usb(通用串行总线)存储设备、ram(随机存取存储器)、rom(只读存储器)和eprom(可擦除可编程只读存储器)。
26、计算机可读介质还可以是数据通信网络，例如因特网，该数据通信网络允许利用经由wlan或3g/4g或任何其他无线数据技术的连接来下载程序代码。
27、在本文中所描述的方法、系统和设备可以实现为数字信号处理器(dsp)、微控制器或任何其他侧处理器中的软件，或者实现为专用集成电路(asic)、cpld或fpga内的硬件电路。
28、本发明可以在数字电子电路、计算机硬件、固件、软件或其组合中实现，例如在常规移动设备的可用硬件中实现，或在专用于处理本文中所描述的方法的新硬件中实现。
1.一种用于适配用于聚合物产品的频率扫描测量的操作设定的方法，所述方法包括以下步骤：
2.根据权利要求1所述的方法，
3.根据权利要求1或2所述的方法，
4.根据前述权利要求中任一项所述的方法，
5.根据前述权利要求中任一项所述的方法，
6.根据前述权利要求中任一项所述的方法，
7.根据权利要求6所述的方法，
8.根据前述权利要求中任一项所述的方法，
9.一种用于适配用于聚合物产品的频率扫描测量的操作设定的装置(100)，所述装置包括
10.根据权利要求9所述的装置，
11.根据权利要求9或10所述的装置，
12.根据前述权利要求9至11中任一项所述的装置，
13.根据前述权利要求9至12中任一项所述的装置，
14.根据前述权利要求9至13中任一项所述的装置，
15.一种计算机可读介质，所述计算机可读介质包括指令，当所述指令被计算机执行时，使得所述计算机执行前述权利要求1至8中任一项所述的方法的步骤。
