本发明涉及检测电路，具体涉及一种负载类型检测电路。
背景技术：
1、小型化和多功能化是现有集成电路领域的发展趋势，即现有的集成电路控制芯片通常具有多种工作模式，使得其所控制的功率电路通常可以适用于不同类型的电路负载，从而实现多功能化。故此时，需要通过对功率电路所接的电路负载类型进行检测，从而调节芯片的工作模式。同时，现有的集成电路控制芯片还需要尽量减少芯片引脚，从而实现小型化，故此时，需要通过对芯片所接的引脚负载类型进行检测，从而实现芯片引脚的复用。
2、因此，如何得到一种可靠的负载类型检测电路是本领域亟需解决的问题。
技术实现思路
1、有鉴于此，本发明提供了一种负载类型检测电路，应用于集成电路控制芯片时，使得集成电路控制芯片可以实现小型化或多功能化。该技术方案如下：
2、一方面，本申请提供了一种负载类型检测电路，所述负载类型检测电路中包括启动模块和检测模块；
3、在所述负载类型检测电路上电后，所述启动模块的电流生成支路中生成目标电流；在所述电流生成支路中包括第四开关管以及第五开关管；所述目标电流依次通过所述第四开关管以及所述第五开关管传输至负载连接端；
4、在所述检测模块中包括第一目标电路、第二目标电路、第三目标电路以及d触发器；所述第一目标电路的输入端连接至所述第四开关管的输出端；所述第一目标电路的输出端连接至所述第二目标电路的输入端；所述第二目标电路的输出端连接至所述第三目标电路的输入端；所述第三目标电路的输出端与所述d触发器的第一输入端连接；所述d触发器的输出端连接至控制模块，以控制外部电路的工作状态；
5、所述d触发器的第二输入端、第四开关管的控制端以及第五开关管的控制端分别接入控制电压。
6、在一种可选的实施方式中，在所述负载类型检测电路上电后，所述控制电压为高电平，且在目标时间段后变为低电平。
7、在一种可选的实施方式中，所述第一目标电路包括第二运算放大器；所述第二运算放大器的同相输入端连接至所述第四开关管的输出端；所述第二运算放大器的反相输入端连接至所述第二运算放大器的输出端。
8、在一种可选的实施方式中，所述第二目标电路包括第一电容、第三运算放大器以及第四电阻，所述第二目标电路的输入端通过第一电容连接至第三运算放大器的反相输入端；所述第三运算放大器的反相输入端通过第四电阻连接至所述第三运算放大器的输出端；所述第三运算放大器的同相输入端接地。
9、在一种可选的实施方式中，所述第三目标电路包括第五电阻、第六电阻以及第四运算放大器；所述第三目标电路的输入端通过第五电阻连接至所述第四运算放大器的反相输入端；所述第四运算放大器的反相输入端通过第六电阻连接至所述第四运算放大器的输出端；所述第四运算放大器的同相输入端接地。
10、在一种可选的实施方式中，所述第五电阻的电阻值与所述第六电阻的电阻值相等。
11、在一种可选的实施方式中，所述启动模块包括第一电流镜；所述第一电流镜包括第一支路、第二支路以及所述电流生成支路；
12、所述第一电流镜的第一支路连接至第一节点；所述第一节点连接至第一运算放大器的同相输入端；所述第一节点还依次通过第一电阻以及第一三极管接地；所述第一节点还通过第二电阻接地；
13、所述第一电流镜的第二支路连接至第二节点；所述第二节点连接至所述第一运算放大器的反相输入端；所述第二节点通过第二三极管接地；所述第二节点还通过第三电阻接地；
14、所述第一运算放大器的输出端用于控制所述第一电流镜的工作状态。
15、在一种可选的实施方式中，所述第二电阻的电阻值与所述第三电阻的电阻值相等。
16、在一种可选的实施方式中，所述第一三极管的控制端接地；所述第二三极管的控制端接地；所述第一三极管与所述第二三极管的个数比为n:1。
17、在一种可选的实施方式中，所述第一电流镜的第一支路包括第一开关管；所述第一电流镜的第二支路包括第二开关管；所述电流生成支路包括第三开关管；所述第一运算放大器的输出端分别连接第一开关管的控制端、第二开关管的控制端以及第三开关管的控制端。
18、在一种可选的实施方式中，所述第三开关管的输出端与所述第四开关管的输入端连接。
19、又一方面，本申请提供了一种集成电路控制芯片，所述集成电路控制芯片中包括上述负载类型检测电路与控制模块。
20、在一种可选的实施方式中，所述集成电路控制芯片上具有负载引脚；所述负载引脚与集成电路控制芯片内部的负载类型检测电路中的负载连接端相连；
21、当所述集成电路控制芯片用于检测功率电路所连接的电路负载类型时，所述负载引脚与电路负载连接；所述集成电路控制芯片中的控制模块根据所述功率电路的电路负载类型控制所述功率电路的工作状态。
22、在一种可选的实施方式中，所述集成电路控制芯片中还包括引脚切换电路；
23、当所述集成电路控制芯片用于检测引脚负载类型时，所述集成电路控制芯片的负载引脚与外部引脚负载相连；
24、所述控制模块与所述引脚切换电路相连，以根据外部引脚负载的负载类型控制引脚切换电路切换负载引脚的功能。
25、本申请提供的技术方案可以包括以下有益效果：
26、本申请提供的一种负载类型检测电路，当电阻负载接入负载类型检测电路后，该负载类型检测电路输出低电平，当电容负载接入负载类型检测电路后，该负载类型检测电路输出高电平，从而实现对所接入负载的负载类型进行检测。在该负载类型检测电路和控制模块应用于集成电路控制芯片时，控制模块根据该负载类型检测电路输出的电平高低对芯片的工作模式或引脚进行调节，从而实现集成电路控制芯片的多功能化或小型化。
27、本申请提供的一种负载类型检测电路，能够产生零温度系数的目标电流，从而确保负载类型检测电路可靠输出低电平或高电平，大大提高了负载类型检测电路的安全可靠性。
1.一种负载类型检测电路，其特征在于，所述负载类型检测电路中包括启动模块和检测模块；
2.根据权利要求1所述的负载类型检测电路，其特征在于，在所述负载类型检测电路上电后，所述控制电压为高电平，且在目标时间段后变为低电平。
3.根据权利要求1所述的负载类型检测电路，其特征在于，所述第一目标电路包括第二运算放大器；所述第二运算放大器的同相输入端连接至所述第四开关管的输出端；所述第二运算放大器的反相输入端连接至所述第二运算放大器的输出端。
4.根据权利要求1所述的负载类型检测电路，其特征在于，所述第二目标电路包括第一电容、第三运算放大器以及第四电阻，所述第二目标电路的输入端通过第一电容连接至第三运算放大器的反相输入端；所述第三运算放大器的反相输入端通过第四电阻连接至所述第三运算放大器的输出端；所述第三运算放大器的同相输入端接地。
5.根据权利要求1所述的负载类型检测电路，其特征在于，所述第三目标电路包括第五电阻、第六电阻以及第四运算放大器；所述第三目标电路的输入端通过第五电阻连接至所述第四运算放大器的反相输入端；所述第四运算放大器的反相输入端通过第六电阻连接至所述第四运算放大器的输出端；所述第四运算放大器的同相输入端接地。
6.根据权利要求5所述的负载类型检测电路，其特征在于，所述第五电阻的电阻值与所述第六电阻的电阻值相等。
7.根据权利要求1至6任一所述的负载类型检测电路，其特征在于，所述启动模块包括第一电流镜；所述第一电流镜包括第一支路、第二支路以及所述电流生成支路；
8.根据权利要求7所述的负载类型检测电路，其特征在于，所述第二电阻的电阻值与所述第三电阻的电阻值相等。
9.根据权利要求7所述的负载类型检测电路，其特征在于，所述第一三极管的控制端接地；所述第二三极管的控制端接地；所述第一三极管与所述第二三极管的个数比为n:1。
10.根据权利要求7所述的负载类型检测电路，其特征在于，所述第一电流镜的第一支路包括第一开关管；所述第一电流镜的第二支路包括第二开关管；所述电流生成支路包括第三开关管；所述第一运算放大器的输出端分别连接第一开关管的控制端、第二开关管的控制端以及第三开关管的控制端。
11.根据权利要求10所述的负载类型检测电路，其特征在于，所述第三开关管的输出端与所述第四开关管的输入端连接。
12.一种集成电路控制芯片，其特征在于，所述集成电路控制芯片中包括如权利要求1至11任一所述的负载类型检测电路与控制模块。
13.根据权利要求12所述的集成电路控制芯片，其特征在于，所述集成电路控制芯片上具有负载引脚；所述负载引脚与集成电路控制芯片内部的负载类型检测电路中的负载连接端相连；
14.根据权利要求12所述的集成电路控制芯片，其特征在于，所述集成电路控制芯片中还包括引脚切换电路；
