本发明涉及半导体测试，具体为一种数模混合信号半导体器件的通用测试装置。
背景技术：
1、所有的半导体器件在出厂前或者装机使用前均需进行电性能测试以保证器件的功能和性能均满足要求，提高后续装机使用的可靠性。
2、模数转换芯片是将时间连续和幅值连续的模拟量转换为时间离散、幅值也离散的数字量；数模转换芯片是将离散的数字量转换为连续变化的模拟量。与普通的数字信号器件不同，数模混合信号半导体器件同时会有数字和模拟信号的输入输出。
3、在以往的数模混合信号半导体器件的测试中，为了保证测试信号的完整性和精度，会设计出一款专用的测试装置用来与ate测试设备连接，从而完成测试。
4、但是在设计专用的测试装置时，每次需要根据芯片的引脚定义情况来设计制作测试装置，在测试不同的芯片时，每次还需要更换测试装置，非常耗费时间，同时测试装置的设计制作成本也较高。
5、因此，为了解决模数转换芯片测试装置可通用、测试信号满足要求、提升测试效率、节省装置成本的难题，设计出一种可通用的数模混合信号半导体器件的测试装置。
技术实现思路
1、针对现有技术的不足，本发明提供了一种数模混合信号半导体器件的通用测试装置，解决了上述背景技术中提出的问题。
2、为实现以上目的，本发明通过以下技术方案予以实现：一种数模混合信号半导体器件的通用测试装置，包括测试母板，所述测试母板的中部表面固定连接有测试插座，所述测试插座的两侧均设有与测试母板相连接的拨码开关，所述测试插座的下方设有低噪声电源；
3、所述测试母板的表面还设有信号继电器、模拟信号单元、信号处理和滤波电路，所述模拟信号单元单元位于信号处理的一侧，所述信号继电器位于信号处理的另一侧，所述信号继电器靠近测试插座的一侧设有滤波电路。
4、可选的，所述测试插座设为dip40转接板，用于实现任一40pin以下封装的被测器件的测试连接。
5、可选的，所述拨码开关用于用户自定义为器件任一引脚提供vcc、gnd、vref输入；
6、其中vcc用于被测器件供电，gnd用于被测芯片接地，vref用于被测芯片基准电压。
7、可选的，所述低噪声电源用于为测试装置中的模拟信号单元和信号处理电路提供电源供电。
8、可选的，所述信号继电器用于数字信号和模拟信号单元之间的切换操作，达到数字信号、模拟信号自定义的需要。
9、可选的，所述模拟信号单元单元包括模拟信号输入和模拟信号输出，模拟信号单元通过sma连接器输入与采集，通过低阻抗的模拟信号多路复用器对模拟信号进行多路选用。
10、可选的，所述信号处理用于模拟信号单元通过处理电路时提高信号的抗干扰、抗噪声能力，减小信号失真。
11、可选的，所述滤波电路用于降低测试装置中的噪声，提高模拟信号质量。
12、本发明提供了一种数模混合信号半导体器件的通用测试装置，具备以下
13、有益效果：
14、该数模混合信号半导体器件的通用测试装置，用户可以自定义将ate测试设备中vcc、gnd、vref、模拟信号、数字信号自由分配到数模混合信号器件的任一引脚，自由组合，可以实现数模混合信号器件的通用测试，不用再局限于各引脚vcc、gnd或者其他引脚位于不同pin而导致重新设计测试装置，极大的实现了通用性，提高了测试效率，可降低每只被测器件均需制作测试装置的成本；
15、通用测试装置与ate测试设备的测试母板连接好后，ate测试设备的测试资源转接到了通用测试装置中；然后被测器件放在通用测试装置中，被测器件需要的vcc、gnd、vref、数字信号、模拟信号需要根据被测器件的实际情况来组合到被测芯片的引脚上；本发明的通用测试装置的设计目的和创新点主要在于给用户可自由定义被测件的每个引脚施加vcc、gnd、vref、数字信号、模拟信号中的一种资源，达到通用的效果，从而提高测试效率，节约设计制作成本。
1.一种数模混合信号半导体器件的通用测试装置，包括测试母板(1)，其特征在于，所述测试母板(1)的中部表面固定连接有测试插座(2)，所述测试插座(2)的两侧均设有与测试母板(1)相连接的拨码开关(3)，所述测试插座(2)的下方设有低噪声电源(4)；
2.根据权利要求1所述的一种数模混合信号半导体器件的通用测试装置，其特征在于：所述测试插座(2)设为dip40转接板，用于实现任一40pin以下封装的被测器件的测试连接。
3.根据权利要求1所述的一种数模混合信号半导体器件的通用测试装置，其特征在于：所述拨码开关(3)用于用户自定义为器件任一引脚提供vcc、gnd、vref输入；
4.根据权利要求1所述的一种数模混合信号半导体器件的通用测试装置，其特征在于：所述低噪声电源(4)用于为测试装置中的模拟信号单元(6)和信号处理(7)电路提供电源供电。
5.根据权利要求1所述的一种数模混合信号半导体器件的通用测试装置，其特征在于：所述信号继电器(5)用于数字信号和模拟信号单元(6)之间的切换操作，达到数字信号、模拟信号自定义的需要。
6.根据权利要求1所述的一种数模混合信号半导体器件的通用测试装置，其特征在于：所述模拟信号单元单元(6)包括模拟信号输入和模拟信号输出，模拟信号单元(6)通过sma连接器输入与采集，通过低阻抗的模拟信号多路复用器对模拟信号进行多路选用。
7.根据权利要求1所述的一种数模混合信号半导体器件的通用测试装置，其特征在于：所述信号处理(7)用于模拟信号单元(6)通过处理电路时提高信号的抗干扰、抗噪声能力，减小信号失真。
8.根据权利要求1所述的一种数模混合信号半导体器件的通用测试装置，其特征在于：所述滤波电路(8)用于降低测试装置中的噪声，提高模拟信号质量。
