一种用于SiC的可见光芬顿-化学机械抛光液、制备方法及抛光方法

allin2025-05-14  44


本发明涉及于化学机械抛光,更具体地,涉及一种用于sic的可见光芬顿-化学机械抛光液、制备方法及抛光方法。


背景技术:

1、随着新型通信技术的高速发展,对半导体器件的研发与制造提出了越来越高的要求。作为第三代半导体材料,单晶sic具有大的禁带宽度、高饱和电子漂移速度、高击穿电场强度、高热导率等特性,能在高温、大功率、强辐射等极端条件下使用,是最具发展前景的半导体材料之一,已在多种领域得到广泛的运用。sic晶片用于外延膜生长时,要求表面超光滑、无缺陷及损伤,表面粗糙度小于0.5nm。但由于单晶sic硬度高(莫氏硬度9.2)、脆性大及化学性质非常稳定等特性,无论是作为衬底基片还是功率器件,其表面高效全局平坦化加工极其困难,难以兼顾高效、高精度平坦化,极大地限制了sic基功率芯片及器件的应用。

2、化学机械抛光(cmp)广泛应用于单晶硅、石英、金属等构件的全局平坦化加工,在sic衬底的表面平坦化也得到了成功的应用。cmp基于化学腐蚀和机械磨削的交替过程实现对象表面的抛光,其化学腐蚀速率直接影响sic表面的cmp抛光效率和抛光质量。作为cmp的实现载体,抛光液对抛光质量和抛光效率具有决定性的影响。传统的抛光液往往具有毒性较高的强氧化剂、强酸、强碱等组分,不符合国家绿色发展战略。由此,近些年绿色环保的化学机械抛光液逐步发展起来。其中,最主要的策略是用新型低毒或无毒的氧化剂、酸/碱来替代传统毒性组分。

3、目前,采用氧化剂h2o2替换传统高毒的硝酸、高碘酸盐、过硫酸盐、次氯酸盐等已较为成熟,如中国专利cn115124927a、cn117305843a、cn117328068a、cn117987011a均优选h2o2作为绿色氧化剂用于化学机械抛光。然而,h2o2的氧化电势仅为1.76ev,相比于传统的氧化剂对抛光对象的腐蚀能力有限,且在抛光过程中其极易分解成氧气和水,导致氧化效果不高。

4、为此,人们将芬顿催化剂引入化学机械抛光液中,利用芬顿反应催化h2o2,以实现2.8ev的超高氧化还原电势,从而提高氧化效率。其中,铁基化合物是最常见的芬顿催化剂,如徐少平等人在非专利文献“单晶sic化学机械抛光液的固相催化剂研究”报道了多种铁基芬顿催化剂的cmp效果。然而,由于催化剂引入的瞬间,抛光液中的h2o2则立刻发生分解,而产生的*oh寿命有限,在进入抛光设备时就大量的淬灭,难以高效利用*oh,造成抛光效率提升有限。


技术实现思路

1、本发明的目的在于克服现有技术存在的上述缺陷,提供一种用于sic的可见光芬顿-化学机械抛光液、制备方法及抛光方法,通过采用钛基金属有机框架mil-125(ti),并辅以可见光光源辐照,能够高效催化h2o2产生大量具有超越高氧化还原电势的*oh,从而实现*oh的原位产生及对sic的高效率氧化,且产生*oh不会发生淬灭,可极大提高*oh的利用率,具有抛光效率高,表面缺陷少等优点,有效满足了sic表面抛光质量要求。

2、为实现上述目的,本发明的技术方案如下:

3、一种用于sic的可见光芬顿-化学机械抛光液,包括以下重量百分比的组分:0.02wt%~0.1wt%的mil-125(ti)、1wt%~5wt%的过氧化氢、15wt%~30wt%的磨料、0.1wt%~0.5wt%的碳酸钠、0.1wt%~0.5wt%的分散剂以及余量为去离子水。

4、本发明还公开了一种如上述的用于sic的可见光芬顿-化学机械抛光液的制备方法,包括以下步骤:

5、将分散剂溶解于去离子水中后加入磨料进行混合,得到第一悬浮液;

6、在黄光下,将mil-125(ti)和碳酸钠加入至所述第一悬浮液中进行混合,得到第二悬浮液;

7、在黄光下,将过氧化氢加入至所述第二悬浮液后在黑暗下进行混合,得到可见光芬顿-化学机械抛光液。

8、本发明还公开了一种如上述的可见光芬顿-化学机械抛光液,或如上述的制备方法制备得到的可见光芬顿-化学机械抛光液的抛光方法,包括以下步骤:

9、s1、在室温条件下向抛光垫与sic之间注入所述可见光芬顿-化学机械抛光液,并在此过程中始终保持所述可见光芬顿-化学机械抛光液处于黑暗环境下;

10、s2、在可见光光源照射下,对所述sic进行可见光芬顿-化学机械抛光,抛光结束后经清洗干燥,得到处理后的sic。

11、实施本发明实施例,将具有如下有益效果:

12、(1)本发明以提高*oh的原位产生及提高*oh的利用率的抛光液为设计出发点,研制了优于传统抛光液体系,通过采用钛基金属有机框架,并辅以可见光光源辐照,能够高效催化h2o2产生大量具有超越高氧化还原电势的*oh,从而实现*oh的原位产生及对sic的高效率氧化;进一步的,本发明的抛光液通过可见光光源辐射,并对抛光过程中抛光压力、抛光液流量、抛光转速、可见光功率等参数进行控制,可一边抛光一边辐照,产生*oh不会发生淬灭,可极大提高*oh的利用率。因此,本发明提升了*oh的浓度以及利用率,使其在对sic抛光时,具有更高的*oh来与工件进行氧化反应,加快抛光加工过程中磨料对sic表面材料的去除,能够有效地提高sic的抛光效率,具有抛光效率高,表面缺陷少,抛光后硅片表面易清洗等优点,有效满足了sic表面抛光质量要求。

13、(2)本发明的可见光芬顿-化学机械抛光液中的组分为绿色环保组分,有效摒弃了传统抛光液中高毒的硝酸、高碘酸盐、过硫酸盐、次氯酸盐的使用,保护了实验设备和生态环境,且在抛光结束后,可通过过滤或离心等手段将磨料和mil-125(ti)分离出来,经过清洗后可重复利用。



技术特征:

1.一种用于sic的可见光芬顿-化学机械抛光液,其特征在于,包括以下重量百分比的组分:

2.根据权利要求1所述的用于sic的可见光芬顿-化学机械抛光液,其特征在于,所述mil-125(ti)的粒径为200nm~500nm。

3.根据权利要求1所述的用于sic的可见光芬顿-化学机械抛光液,其特征在于,所述磨料包括二氧化硅和氧化铈中的一种或两种;

4.根据权利要求3所述的用于sic的可见光芬顿-化学机械抛光液,其特征在于,所述二氧化硅和所述氧化铈的重量比为(2~10):1。

5.根据权利要求1所述的用于sic的可见光芬顿-化学机械抛光液,其特征在于,所述分散剂包括羧甲基纤维素钠、羟甲基纤维素钠和聚乙烯吡咯烷酮中的一种或两种以上。

6.一种如权利要求1-5中任意一项所述的用于sic的可见光芬顿-化学机械抛光液的制备方法,其特征在于,包括以下步骤:

7.一种利用如权利要求1-5中任意一项所述的可见光芬顿-化学机械抛光液,或如权利要求6所述的制备方法制备得到的可见光芬顿-化学机械抛光液的抛光方法,其特征在于,包括以下步骤:

8.根据权利要求7所述的抛光方法,其特征在于,所述可见光芬顿-化学机械抛光过程中,抛光垫的转速控制为200rpm~1000rpm,抛光时间为120min~600min;所述抛光垫的材质为阻尼布;所述可见光光源的功率为50w~200w;所述抛光压力为1mpa~10mpa;所述抛光液的流速为1ml/min~5ml/min。


技术总结
本发明公开了一种用于SiC的可见光芬顿‑化学机械抛光液、制备方法及抛光方法,抛光液包括以下重量百分比的组分:0.02wt%~0.1wt%的MIL‑125(Ti)、1wt%~5wt%的过氧化氢、15wt%~30wt%的磨料、0.1wt%~0.5wt%的碳酸钠、0.1wt%~0.5wt%的分散剂以及余量为去离子水。本发明通过采用MIL‑125(Ti),并辅以可见光光源辐照,能够高效催化H<subgt;2</subgt;O<subgt;2</subgt;产生大量具有超越高氧化还原电势的*OH,从而实现*OH的原位产生及对SiC的高效率氧化,且产生*OH不会发生淬灭,可极大提高*OH的利用率,具有抛光效率高,表面缺陷少等优点,有效满足了SiC表面抛光质量要求。

技术研发人员:曹春,张振宇,孟凡宁,周红秀,石春景,冯俊元,童丁毅
受保护的技术使用者:杭州电子科技大学
技术研发日:
技术公布日:2024/10/31
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