本发明涉及芯片测试，具体涉及一种芯片硅后验证测试方法、装置及设备。
背景技术：
1、硅后验证的目的是确保芯片在实际的工作条件下能够正确执行真实软件，并查找与定位在硅前验证中未能发现的设计问题或者是生产制造中的缺陷。硅后验证在芯片验证环节中的重要性越来越高。
2、目前，硅后验证测试需要人工控制芯片向待测总线发数据，然后通过示波器抓取波形，根据抓取的波形手动测试总线。但需要消耗大量的人力和时间，且不能保证数据测试的准确性。
3、鉴于此，需要一种能提高测试效率的芯片硅后验证测试方法。
技术实现思路
1、有鉴于此，本发明提供了一种芯片硅后验证测试方法，以解决目前人工测试效率低的问题。
2、第一方面，本发明提供了一种芯片硅后验证测试方法，方法用于验证测试系统中的计算机设备；验证测试系统中还包括待测试芯片以及多通道选择设备；待测试芯片上的各个总线与多通道选择设备的各个通道一一对应连接；方法包括：针对待测试芯片内多条总线中的任一目标总线，向多通道选择设备发送与目标总线对应的目标选通指令；目标选通指令用于控制与目标总线对应的通道选通，其余通道关断；接收多通道选择设备的输出信号；根据输出信号，获取目标总线的测试结果。
3、在本实施方式中，通过向多通道选择设备发送目标选通指令，仅导通目标总线对应的通道，进而实现对总线的测试。可以减少不同目标总线内信号间的干扰，并且提高验证测试方法的灵活性，提高测试效率。
4、在一种可选的实施方式中，计算机设备中存储有待测试芯片的各个总线的测试顺序；针对各个总线中的任一目标总线，向多通道选择设备发送与目标总线对应的目标选通指令，包括：针对各个总线中的任一目标总线，在检测到目标总线的上一顺序的总线的测试流程完成后，向多通道选择设备发送与目标总线对应的目标选通指令。
5、在本实施方式中，在测试完上一总线后，发送指令选通下一总线。可以对待测试芯片内的总线进行自动化测试，节省测试时间，降低测试成本。
6、在一种可选的实施方式中，在向多通道选择设备发送与目标总线对应的目标选通指令之前，包括：若当前未执行对待测试芯片的各个总线的测试流程，在待测试芯片中的处于未测试状态的总线中选取目标总线。
7、在本实施方式中，在未测试的总线中选择目标总线执行测试流程，可以避免对待测试芯片内的总线进行重复测试，可以减少测试时间和成本，提高测试效率。
8、在一种可选的实施方式中，方法还包括：当获取到目标总线的测试结果后，结束对目标总线的测试流程，并将目标总线标记为已测试状态。
9、在本实施方式中，对已测试过的总线进行状态标记，可以快速识别，简化测试流程。
10、在一种可选的实施方式中，根据输出信号，获取目标总线的测试结果包括：针对输出信号，获取与输出信号相匹配的参考信号；对比输出信号和参考信号，并基于对比结果得到输出信号的相似度；基于相似度，获取目标总线的测试结果。
11、在本实施方式中，通过获取输出信号和参考信号的相似度，得到目标总线的测试结果，可以快速对目标总线进行测试。
12、在一种可选的实施方式中，针对输出信号，获取与输出信号相匹配的参考信号包括：确定目标总线的总线类型，并基于总线类型确定目标总线的测试项；根据测试项，确定与输出信号相匹配的参考信号。
13、在本实施方式中，根据目标总线的总线类型，确定测试项，进而获取与测试项相匹配的参考信号，可以使测试信号覆盖所有设计功能，提高测试结果的可靠性。
14、在一种可选的实施方式中，对比输出信号和参考信号，并基于对比结果得到输出信号的相似度包括：提取输出信号和参考信号的信号特征，并构建包含输出信号的信号特征的特征序列和包含参考信号的信号特征的参考序列；在特征序列和参考序列中确定相匹配的特征参数对，并计算各个特征参数对的参数比值；基于各个参数比值，生成特征序列和参考序列之间的相似度。
15、在本实施方式中，通过提取并对比输出信号和参考信号的信号特征，可以得到输出信号和参考信号的相似度，进而得到目标总线的测试结果。可以通过一个量化的度量得到目标总线的测试结果，进而提高测试结果的准确性。
16、在一种可选的实施方式中，信号特征包括信号频率、幅度、相位、频谱、振荡幅度中的至少一种。
17、在本实施方式中，通过不同的信号特征，可以提高测试结果的可靠性。
18、第二方面，本发明提供了一种芯片硅后验证测试装置，装置包括：指令模块，用于针对待测试芯片内多条总线中的任一目标总线，向多通道选择设备发送与目标总线对应的目标选通指令；目标选通指令用于控制与目标总线对应的通道选通，其余通道关断；接收模块，用于接收多通道选择设备的输出信号；输出模块，用于根据输出信号，获取目标总线的测试结果。
19、第三方面，本发明提供了一种计算机设备，包括：存储器和处理器，存储器和处理器之间互相通信连接，存储器中存储有计算机指令，处理器通过执行计算机指令，从而执行上述第一方面或其对应的任一实施方式的芯片硅后验证测试方法。
1.一种芯片硅后验证测试方法，其特征在于，所述方法用于验证测试系统中的计算机设备；所述验证测试系统中还包括待测试芯片以及多通道选择设备；所述待测试芯片上的各个总线与所述多通道选择设备的各个通道一一对应连接；所述方法包括：
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述计算机设备中存储有所述待测试芯片的各个总线的测试顺序；
3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，在所述向所述多通道选择设备发送与所述目标总线对应的目标选通指令之前，包括：
4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：
5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述输出信号，获取所述目标总线的测试结果包括：
6.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，所述针对所述输出信号，获取与所述输出信号相匹配的参考信号包括：
7.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，所述对比所述输出信号和所述参考信号，并基于对比结果得到所述输出信号的相似度包括
8.根据权利要求7所述的方法，其特征在于，所述信号特征包括信号频率、幅度、相位、频谱、振荡幅度中的至少一种。
9.一种芯片硅后验证测试装置，其特征在于，使用权利要求1至8中任一项所述的芯片硅后验证测试方法，所述装置包括：
10.一种计算机设备，其特征在于，包括：
