本技术涉及芯片测试的，具体涉及一种用于切换芯片测试功能的电路。
背景技术：
1、在芯片测试的应用中，通常需要应用不同的测试方法测量同一个信号的不同功能或性能，因此使用继电器或模拟开关形成的电路实现电路切换的作用是一种常规做法。通常情况下，考虑到继电器的机械开合特性，会优先选用继电器作为切换电路的器件；但由于继电器体积较大且普通继电器在高频特性下会对高速信号传输质量造成损失，而特制的高速继电器价格昂贵，使得人们较多地使用了电子开关这种电子器件。
2、而电子开关在测试芯片管脚的开短路及漏电流时，会频繁地出现测不准电流及无法测出开路的状况，对测量结果产生误差。
技术实现思路
1、(一)要解决的问题
2、本实用新型所要解决的技术问题是针对相关技术的现状，提供一种用于切换芯片测试功能的电路。
3、(二)技术方案
4、本实用新型通过如下技术方案实现:本实用新型提供了一种用于切换芯片测试功能的电路，包括待测芯片模块、切换电路矩阵模块、测量模块一、测量模块二和接地隔离电路，其中，待测芯片模块与切换电路矩阵模块连接；切换电路矩阵模块通过切换电路分别与测量模块一和测量模块二单独连接；切换电路矩阵模块与接地隔离电路连接，测量模块一与接地隔离电路连接；切换电路矩阵模块使用的开关为电子开关；切换电路矩阵模块与测量模块二连接时，测量模块二的接地端仅与待测芯片模块的接地端共地。
5、进一步的，切换电路矩阵模块与测量模块一连接时，切换电路矩阵模块的接地端与待测芯片模块、测量模块一的接地端共地保证连接。
6、进一步的，待测芯片模块包括芯片功能块、保护二极管、电源引脚、接地引脚和产品引脚；电源引脚、接地引脚和产品引脚与芯片功能块相连接，保护二极管设置在电源引脚和接地引脚两端。
7、通过采用上述技术方案，待测芯片模块内部的保护二极管可以作为待测物，成为测量电路中体现出芯片性能的一个部分。
8、进一步的，切换电路矩阵模块包括有公共端、常闭端和常开端，公共端设置有电源引脚，待测芯片模块的产品引脚与切换电路矩阵模块的公用端连接；电路中有设置有二极管，其中公共端、常闭端、常开端都设置有保护二极管。
9、通过采用上述技术方案，切换电路矩阵模块可以实现待测芯片模块到测量模块一或测量模块二的两种电路间的相互切换，保护二极管可以保护电子开关的io端口。
10、进一步的，测量模块一为高速测量组件，测量模块二为直流测量组件。切换电路矩阵模块的常闭端与高速测量组件连接，切换电路矩阵模块的常开端与直流测量组件连接；当切换电路矩阵模块的公共端与常闭端连接时，接地隔离电路与切换电路矩阵模块的所在电路连接，当切换电路矩阵模块的公共端与常开端连接时，测量模块二的接地端仅与待测芯片模块的接地端共地；接地隔离电路包括有接地隔离控制电路，接地隔离控制电路可以设置在测量模块一内。
11、通过采用上述技术方案，当切换电路矩阵模块的公共端与常闭端连接时，由于采用的是电子开关，因而可以避免高频特性下对高速信号传输质量造成损失；当切换电路矩阵模块的公共端与常开端连接时，测量模块二的接地端仅与待测芯片模块的接地端共地，使得电路中的电流不会经过切换电路矩阵模块中的保护二极管，以避免保护二极管对电流测试造成影响以及防止增加的保护二极管所产生形成的并联电路带来的弊端，另外还能避免外部环境对电路带来的影响，从而提高了电路的稳定性和测量精度。
12、(三)有益效果
13、现有切换测试功能的电路中，使用普通继电器会在高频特性下对高速信号造成信号质量损失；同时使用电子开关，在其设计时增加了保护二极管用来保护io端口，受保护二极管的影响，会造成测不准、漏电流和无法测到开路的状况。而产生测不准电流及无法测出开路的状况。
14、本实用新型为了解决这些缺点，采用了浮地的设计，在切换电路矩阵模块与测量模块二连接时，测量模块二的接地端仅与待测芯片模块的接地端共地；此设计将测量信号与地分离，形成了一个浮动的电路环境，使该电路既保留了使用的电子开关体积小、高频特性好的优点，又避开了测不准漏电流和无法测到开路的情况，以达到良好的测量效果，能带来实际应用上的优势和益处，非常具有实用性。
1.一种用于切换芯片测试功能的电路，其特征在于，包括：待测芯片模块、切换电路矩阵模块、测量模块一、测量模块二和接地隔离电路，其中，所述待测芯片模块与切换电路矩阵模块连接；所述切换电路矩阵模块通过切换电路分别与测量模块一和测量模块二单独连接，切换电路矩阵模块与接地隔离电路连接，测量模块一与接地隔离电路连接；所述切换电路矩阵模块使用的开关为电子开关；所述切换电路矩阵模块与测量模块二连接时，测量模块二的接地端仅与待测芯片模块的接地端共地。
2.根据权利要求1所述的一种用于切换芯片测试功能的电路，其特征在于：所述切换电路矩阵模块与测量模块一连接时，切换电路矩阵模块的接地端与待测芯片模块、测量模块一的接地端共地连接。
3.根据权利要求1所述的一种用于切换芯片测试功能的电路，其特征在于：所述待测芯片模块包括芯片功能块、保护二极管、电源引脚、接地引脚和产品引脚；所述电源引脚、接地引脚和产品引脚与芯片功能块相连接，保护二极管设置在电源引脚和接地引脚两端。
4.根据权利要求1所述的一种用于切换芯片测试功能的电路，其特征在于：所述切换电路矩阵模块包括有公共端、常闭端和常开端，公共端设置有电源引脚，电路中设置有二极管。
5.根据权利要求3或4所述的一种用于切换芯片测试功能的电路，其特征在于：所述切换电路矩阵模块的公共端与待测芯片模块的产品引脚连接。
6.根据权利要求4所述的一种用于切换芯片测试功能的电路，其特征在于：所述切换电路矩阵模块的公共端、常闭端、常开端都设置有保护二极管。
7.根据权利要求6所述的一种用于切换芯片测试功能的电路，其特征在于：所述切换电路矩阵模块的常闭端与所述测量模块一连接，切换电路矩阵模块的常开端与所述测量模块二连接；当切换电路矩阵模块的公共端与常闭端连接时，接地隔离电路与切换电路矩阵模块的所在电路连接。
8.根据权利要求1所述的一种用于切换芯片测试功能的电路，其特征在于，所述测量模块一为高速测量组件。
9.根据权利要求1所述的一种用于切换芯片测试功能的电路，其特征在于，所述测量模块二为直流测量组件。
10.根据权利要求1所述的一种用于切换芯片测试功能的电路，其特征在于：所述接地隔离电路还包括接地隔离控制电路，所述接地隔离控制电路可以设置在测量模块一内。
