本技术属于电子检测，更具体地，涉及一种接触电阻的批量测量方法及装置。
背景技术：
1、随着自动测试的发展，越来越多的压接、扣接应用到检测领域，确保压接、扣接是否可靠是非常关键的一部分。通过测量接触电阻的阻值能够反映导体之间的连接是否紧固，因此准确快速的测量大量接触电阻成为了迫切需求。
2、接触电阻的阻值通常较小，在几十到几百毫欧，为精确测量出接触电阻的阻值，通常采用精度较高的四线法测量。如图1所示为目前采用四线法测量大量接触电阻时的端口连接示意图，图中，s+/ s-端口为测量单元的电压测量端口；f+/ f-为测量单元的电源端口；测量单元的f+/s+端口通过切换单元转为n组f+/s+端，n组f+/s+端分别接入n个待测接触电阻dut的压接端，测量单元的f-/s-端通过飞线的方式接入所有待测接触电阻dut的被压接端。检测时，通过切换单元将测量单元的f+/s+端依次切换到每个待测接触电阻dut的压接端，以进行该待测接触电阻的检测，直到完成所有待测接触电阻的阻值检测。现有的四线法测量存在以下缺陷：1、测量单元需要飞线连接接触电阻的f-/s-端；2、使用额外的切换单元依次切换测量端口实现大量接触电阻的依次检测，无法批量测量检测大量接触电阻。
技术实现思路
1、针对现有技术的以上缺陷或改进需求，本技术提供了一种接触电阻的批量测量方法及装置，其目的在于解决目前无法批量测量大量接触电阻的问题。
2、为实现上述目的，第一方面，本技术提供了一种接触电阻的批量测量方法，包括：
3、将每个接触电组的第一端连接一个测量端口对，每个测量端口对由一个电源端口和一个电压测量端口组成；
4、将个接触电阻作为一个接触电阻大组，短接同一接触电阻大组内各接触电阻的第二端，；
5、从待测接触电阻所在的接触电阻大组内选中不同于待测接触电阻的两个接触电阻，从被选中的两个接触电阻所连接的测量端口对中选择不属于同一个测量端口对的一个电源端口和一个电压测量端口，配合待测接触电阻所连接的电源端口和测量端口，采用四线法测量待测接触电阻的阻值：
6、在两个电源端口之间施加恒定电压或恒定电流，得到流经端口之间的电流；测量两个电压测量端口之间的电压；待测接触电阻的电阻。
7、优选的，待测产品的所有接触电阻分为多个接触电阻大组，同步测量至少部分接触电阻大组中的接触电阻。
8、优选的，待测产品的所有接触电阻分为多个接触电阻大组，依次测量多个接触电阻大组中的接触电阻。
9、优选的，接触电阻大组中所有接触电阻所连接的测量端口对组成一个测量大组，多个测量大组复用个相同的测量端口对；
10、若，；则采用以下方法测量复用的测量端口对所连接的接触电阻：
11、将测量大组中复用的个测量端口对划分为第一测量单元分组，测量大组中其他的测量端口对划分为第二测量单元分组；
12、从第二测量单元分组中选择不属于同一个测量端口对的一个电源端口和一个电压测量端口，配合待测接触电阻所连接的电源端口和测量端口采用四线法测量待测接触电阻的阻值。
13、优选的，，=2。
14、优选的，，=2；对于任一接触大组，其包括第一接触电阻、第二接触电阻、第三接触电阻和第四接触电阻；第一接触电阻连接第一测量端口对，第二接触电阻连接第二测量端口对，第三接触电阻连接第三测量端口对，第四接触电阻连接第四测量端口对；
15、第一测量端口对和第二测量端口对组成了第一测量单元分组，第三测量端口对和第四测量端口对组成了第二测量单元分组；
16、从第一测量单元分组中选择不属于同一个测量端口对的一个电源端口和一个电压测量端口组成第一端口对；在第一端口对和第三测量端口对中采用四线法测量第三接触电阻；在第一端口对和第四测量端口对中采用四线法测量第四接触电阻；
17、从第二测量单元分组中选择不属于同一个测量端口对的一个电源端口和一个电压测量端口组成第二端口对；在第二端口对和第一测量端口对中采用四线法测量第一接触电阻；在第二端口对和第二测量端口对中采用四线法测量第二接触电阻。
18、第二方面，本技术提供了一种接触电阻的批量测量装置，所述批量测量装置包括多个电源端口、多个电压测量端口、控制模块、计算模块、电源模块和电压测量模块，其中：
19、所述控制模块分别与计算模块、电源模块和电压测量模块电连接；
20、所述电源模块连接多个电源端口，电压测量模块连接多个电压测量端口；
21、一个电源端口和一个电压测量端口组成一个测量端口对，测量端口对用于和接触电阻的一端连接；
22、所述控制模块用于将个测量端口对划为一个测量大组，；从所述测量大组中选中不同于待测接触电阻的两个接触电阻，从被选中的两个接触电阻所连接的测量端口对中选择不属于同一测量端口对的一个电源端口和一个电压测量端口，配合待测接触电阻所连接的电源端口和测量端口采用四线法测量待测接触电阻的阻值：
23、所述电源模块用于在两个电源端口之间施加恒定电压或恒定电流，得到流经端口间的电流；
24、所述电压测量模块用于测量两个电压测量端口之间的电压；
25、所述计算单元用于计算待测接触电阻的电阻。
26、优选的，所述电源模块包括多个电源芯片，电压测量模块包括多个电压测量芯片，所述多个电源芯片和多个电源端口一一对应连接，多个电压测量芯片和多个电压测量端口一一对应连接；
27、通过两个电源端口所连接的两个电源芯片在所述两个电源端口之间施加恒定电压或电流；
28、通过两个电压测量端口所连接的两个电压测量芯片测量所述两个电压测量端口之间电压。
29、优选的，待测产品的所有接触电阻分为多个接触电阻大组，所述控制模块还用于控制所述批量测试装置对至少部分接触电阻大组进行并行同步测量。
30、优选的，所述批量测量装置中，包括但不限于使用cpu、fpga、dsp、asic或gpu同时实现控制模块和计算模块的功能。
31、第三方面，本技术提供了一种测量系统，所述系统包括第二方面中所述的任一种批量测量装置，还包括压接模块；所述压接模块与所述批量测试装置电连接，用于对待测产品进行压接导通。
32、总体而言，通过本技术所构思的以上技术方案与现有技术相比，具有以下有益效果：
33、（1）本技术将所有接触电阻的一端连接包括一个电源端口和一个电压测量端口的测量端口对，多个接触电阻作为一个接触电阻大组，短接同一接触电阻大组内各接触电阻的另一端，根据接触电阻大组中待测接触电阻的连接位置，控制选定的电源端口之间施加电流或电压，控制选定的电压测量端口之间测量电压，由此基于四线法计算得到待测接触电阻的阻值；采用本技术技术方案且无需飞线，也无需切换单元即可实现大量接触电阻的测量。
34、（2）本技术将接触电阻划分为多个大组，每个接触电阻大组内所有接触电阻一端短接，另一端和测量端口对连接，接触电阻大组中所有接触电阻所连接的测量端口对组成一个测量大组，在不同的测量大组中，控制一些端口间施加电流或电压，另一些端口间测量电压，由此利用不同的测量大组实现接触电阻大组之间接触电阻的同步并行测量；相较于现有方法，本技术实现了批量测量大量接触电阻。
35、（3）本技术中由于每组接触电阻组间并不连通，因此本技术在采用不同测量大组批量测量不同接触电阻大组时，可在多个测量大组中复用相同的一个或多个测量端口对，由此通过测量端口对的复用，实现通过少量测量单元测试大量接触电阻的目的。
1.一种接触电阻的批量测量方法，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的批量测量方法，其特征在于，待测产品的所有接触电阻分为多个接触电阻大组，同步测量至少部分接触电阻大组中的接触电阻。
3.根据权利要求1所述的批量测量方法，其特征在于，待测产品的所有接触电阻分为多个接触电阻大组，依次测量多个接触电阻大组中的接触电阻。
4.根据权利要求2所述的批量测量方法，其特征在于，接触电阻大组中所有接触电阻所连接的测量端口对组成一个测量大组，多个测量大组复用个相同的测量端口对；
5.根据权利要求4所述的批量测量方法，其特征在于，，=2；对于任一接触大组，其包括第一接触电阻、第二接触电阻、第三接触电阻和第四接触电阻；第一接触电阻连接第一测量端口对，第二接触电阻连接第二测量端口对，第三接触电阻连接第三测量端口对，第四接触电阻连接第四测量端口对；
6.一种接触电阻的批量测量装置，其特征在于，所述装置包括多个电源端口、多个电压测量端口、控制模块、计算模块、电源模块和电压测量模块，其中：
7.根据权利要求6所述的批量测量装置，其特征在于，所述电源模块包括多个电源芯片，电压测量模块包括多个电压测量芯片，所述多个电源芯片和多个电源端口一一对应连接，多个电压测量芯片和多个电压测量端口一一对应连接；
8.根据权利要求6所述的批量测量装置，其特征在于，待测产品的所有接触电阻分为多个接触电阻大组，所述控制模块还用于控制所述批量测试装置对至少部分接触电阻大组进行并行同步测量。
9.根据权利要求6所述的批量测量装置，其特征在于，所述批量测量装置中，包括但不限于使用cpu、fpga、dsp、asic或gpu同时实现控制模块和计算模块的功能。
10.一种测量系统，其特征在于，所述系统包括如权利要求6-9所述的批量测量装置，还包括压接模块；所述压接模块与所述批量测试装置电连接，用于对待测产品进行压接导通。
