本技术涉及工件测量校验设备，尤其涉及一种用于空间孔垂直及平行检测的快速检测装置。
背景技术：
1、针对工件上所开的对穿孔，在整个零件上有对应的形位公差要求，其对零件在整个组件组装过程中的影响较为明显。而该孔在检验过程中，仅依靠常规检具进行形位公差的检验，受检验人员自身状态、技能、检具情况等情形的影响，而影响最终检验结果。此外常规检具检验效率低下，在生产忙碌时，可能会影响抽样比例，进而对批量物料的检验结果产生影响。
2、目前一般的测量采用高度尺、辅助检测棒或小钢球，在检测平台上进行测量孔位、孔平行度、孔垂直度要求的检测，且均为间接测量，测量完成后，需进行计算。或使用三坐标检测仪进行测量，但其对设备要求高，测量时间长，因此发明一种操作简易、便捷检验工具，对检验工作至关重要。
技术实现思路
1、本实用新型实施例所要解决的技术问题在于，提供一种用于空间孔垂直及平行检测的快速检测装置，可对零件孔位的位置、平行度、垂直度等进行快速的合格检测。
2、为了解决上述技术问题，本实用新型实施例提供了一种用于空间孔垂直及平行检测的快速检测装置，包括通止检测件和用于插入待检孔的检测轴，所述通止检测件设有预设尺寸的通止孔，以供所述检测轴插入检测；
3、其中，所述检测轴套设有固定安装座和用于与工件吸附连接的磁性基准块，所述磁性基准块通过所述固定安装座与所述检测轴连接，
4、所述磁性基准块设有一磁吸面为检测基准面，以用于与设有待检孔的工件基准面相贴合，所述检测轴的轴线垂直于所述检测基准面。
5、作为上述方案的改进，所述通止检测件包括通止基座和设有所述通止孔的通止块，所述通止基座设有用于与检测平台的平台基准面相贴合的通止基准面。
6、作为上述方案的改进，所述通止孔的轴线与所述通止基准面平行设置。
7、作为上述方案的改进，所述通止孔的孔径大于所述检测轴的轴径。
8、作为上述方案的改进，所述通止孔的孔径与检测轴的轴径之间的差值小于所述通止孔的孔深。
9、作为上述方案的改进，所述通止检测件为一体化结构。
10、作为上述方案的改进，所述通止检测件呈直角角钢状。
11、作为上述方案的改进，所述检测轴包括用于插入所述通止孔的通止轴段和用于插入待检孔的待检轴段，所述固定安装座设有与所述待检轴段相适配的嵌套孔，以嵌套于所述待检轴段上。
12、作为上述方案的改进，所述通止轴段的轴径大于所述待检轴段的轴径，以在所述通止轴段与待检轴段的交界处形成用于限定所述固定安装座位置的阶面。
13、作为上述方案的改进，所述磁性基准块由磁铁制成。
14、实施本实用新型，具有如下有益效果：
15、本实用新型实施例公开了一种用于空间孔垂直及平行检测的快速检测装置，通过利用所述检测轴插入工件的待检孔，可用于实体化待检孔的基准轴线，从而可使所述检测件的通止孔有实体的参考基准。因此，当检测轴可完全穿过通止孔时，则证明待检孔的垂直度和平行度符合要求，反之，则待检孔不符合要求。
16、而且，所述检测轴通过利用所述磁性基准块与工件之间磁吸作用，可实现检测基准面与工件基准面之间自动贴合，从而避免了人工手动贴合时，因过度用力而使工件发生细微形变，进而导致工件基准面的偏移，影响检测的精准性。
1.一种用于空间孔垂直及平行检测的快速检测装置，其特征在于，包括通止检测件和用于插入待检孔的检测轴，所述通止检测件设有预设尺寸的通止孔，以供所述检测轴插入检测；
2.如权利要求1所述的快速检测装置，其特征在于，所述通止检测件包括通止基座和设有所述通止孔的通止块，所述通止基座设有用于与检测平台的平台基准面相贴合的通止基准面。
3.如权利要求2所述的快速检测装置，其特征在于，所述通止孔的轴线与所述通止基准面平行设置。
4.如权利要求3所述的快速检测装置，其特征在于，所述通止孔的孔径大于所述检测轴的轴径。
5.如权利要求4所述的快速检测装置，其特征在于，所述通止孔的孔径与检测轴的轴径之间的差值小于所述通止孔的孔深。
6.如权利要求1所述的快速检测装置，其特征在于，所述通止检测件为一体化结构。
7.如权利要求6所述的快速检测装置，其特征在于，所述通止检测件呈直角角钢状。
8.如权利要求1所述的快速检测装置，其特征在于，所述检测轴包括用于插入所述通止孔的通止轴段和用于插入待检孔的待检轴段，所述固定安装座设有与所述待检轴段相适配的嵌套孔，以嵌套于所述待检轴段上。
9.如权利要求8所述的快速检测装置，其特征在于，所述通止轴段的轴径大于所述待检轴段的轴径，以在所述通止轴段与待检轴段的交界处形成用于限定所述固定安装座位置的阶面。
10.如权利要求1所述的快速检测装置，其特征在于，所述磁性基准块由磁铁制成。
