本技术涉及存储器芯片，更具体地说，本技术涉及一种存储器芯片再制造测试机。
背景技术：
1、存储器芯片，也被称为存储芯片，是一种用于存储数据的集成电路芯片，是计算机系统中至关重要的组成部分，它的主要作用是在计算机系统中存储和检索数据，以便在需要时能够快速访问和处理。
2、市场上的芯片测试装置不便于对芯片进行插接，无法保证芯片在测试过程中的稳定性，容易在移动的过程中出现晃动进而导致插接位置出现错位的现象，直接影响芯片的测试结果。
3、为了解决上述问题，公开号为cn219143027u的实用新型公开了芯片测试装置，通过设置吸盘和红外传感器，通过行程气缸驱动吸盘竖直直线运动的作用，实现对芯片自动上下料的效果，设置滑板一两侧的红外传感器可以对芯片位置进行监测，当检测到芯片放置在吸盘下方时，行程气缸驱动吸盘对其进行吸附夹持，并且配合电动推杆一驱动滑板一直线移动，将芯片放置于芯片测试座上端等待测试工作，可以保证吸盘和芯片测试座之间位置的准确性和稳定性，避免出现错位的现象，提高芯片的测试结果。
4、上述芯片测试装置在实际使用时，芯片上的测试点可能分布在不同的位置和角度上，现有的测试机可能只能访问到芯片的一部分区域，不便于对全部区域进行测试，导致测试覆盖度不足，降低了芯片的出厂质量，影响了芯片使用的性能。
技术实现思路
1、为了克服现有技术的上述缺陷，本实用新型提供一种存储器芯片再制造测试机，以解决上述背景技术中提出的问题。
2、为实现上述目的，本实用新型提供如下技术方案：
3、一种存储器芯片再制造测试机，包括外壳，所述外壳内部安装有旋转组件；
4、所述旋转组件包括电机，所述电机输出端安装有第一齿轮，所述第一齿轮一侧前侧啮合有第二齿轮，所述第二齿轮顶部固定连接有第一固定杆，所述第一固定杆顶部固定连接有转盘，所述第二齿轮顶部两端固定连接有两个第二固定杆，两个所述第二固定杆外侧均安装有推动杆，两个所述推动杆一端内部均安装有第三固定杆，两个所述第三固定杆底端均安装有活动杆，两个所述活动杆一端内部均安装有支撑杆，所述外壳顶部固定连接有底板，所述外壳和底板顶部表面均开设有滑槽。
5、通过采用上述技术方案：电机安装在外壳内部，第一齿轮安装在电机输出端上，第二齿轮与第一齿轮前侧啮合连接，第一固定杆与第二齿轮顶部固定连接，转盘与第一固定杆顶端固定连接，两个第二固定杆均与第二齿轮顶部固定连接，两个推动杆均安装在第二固定杆外侧，两个推动杆一端内部均与第三固定杆插接固定，两个第三固定杆底端均与活动杆一端内部活动连接，两个活动杆另一端内部均与支撑杆活动连接，第一固定杆与滑槽内部活动连接。
6、作为上述技术方案的进一步描述：所述转盘两次均固定连接有支撑底座，两个所述支撑底座顶部均安装有液压杆。
7、通过采用上述技术方案：两个支撑底座均在转盘顶部两端固定连接，
8、两个液压杆均安装在支撑底座顶端中部。
9、作为上述技术方案的进一步描述：两个所述液压杆输出端均安装有夹板，两个所述夹板内部均安装有多个伸缩弹簧。
10、通过采用上述技术方案：两个夹板均安装在液压杆输出端上，多个伸缩弹簧均与夹板内部粘接固定。
11、作为上述技术方案的进一步描述：多个所述伸缩弹簧左侧均固定连接有伸缩块，两个所述夹板左侧底端均固定连接有支撑板。
12、通过采用上述技术方案：多个伸缩弹簧一端均与伸缩块一侧粘接固定，两个夹板左侧底端均与支撑板焊接固定。
13、作为上述技术方案的进一步描述：所述底板顶部右端固定连接有支撑架，所述支撑架左侧安装有芯片检测仪。
14、通过采用上述技术方案：支撑架与底板顶部右端焊接固定，芯片检测仪安装在支撑架左侧。
15、作为上述技术方案的进一步描述：所述底板底部两端均固定连接有支架腿，两个所述支架腿均在底板底部对称分布。
16、通过采用上述技术方案：支架腿与底板底部两端通过螺钉固定连接，两个支架腿均在底板底部对称分布。
17、作为上述技术方案的进一步描述：两个所述推动杆一端内部均与第二固定杆插接固定，两个所述推动杆另一端内部均与第三固定杆插接固定，两个所述活动杆一端内部均与第三固定杆底端活动连接。
18、通过采用上述技术方案：两个推动杆一端内部均与第二固定杆插接固定，两个推动杆另一端均与第三固定杆插接固定，两个活动杆一端内部均与第三固定杆底端活动连接。
19、本实用新型的技术效果和优点：
20、1、通过设置旋转组件，与现有技术相比，通过两个活动杆支撑推动杆跟随第二齿轮转动，再利用第二齿轮通过第一固定杆带动转盘转动，能够精确控制芯片的位置和角度，便于对芯片不同测试区域进行测试，有助于减少测试误差，增加了测试的准确性，提高了测试效率；
21、2、通过设置液压杆、夹板、伸缩弹簧和伸缩块，与现有技术相比，通过液压杆推动夹板夹持芯片，再利用多个伸缩块挤压伸缩弹簧更加贴合芯片表面，可以有效的防止芯片在测试过程中不会脱落或移位，同时适用于不同规则形状的芯片，提高了测试机的通用性。
1.一种存储器芯片再制造测试机，包括外壳(1)，其特征在于：所述外壳(1)内部安装有旋转组件；
2.根据权利要求1所述的一种存储器芯片再制造测试机，其特征在于：所述转盘(6)两次均固定连接有支撑底座(13)，两个所述支撑底座(13)顶部均安装有液压杆(14)。
3.根据权利要求2所述的一种存储器芯片再制造测试机，其特征在于：两个所述液压杆(14)输出端均安装有夹板(15)，两个所述夹板(15)内部均安装有多个伸缩弹簧(16)。
4.根据权利要求3所述的一种存储器芯片再制造测试机，其特征在于：多个所述伸缩弹簧(16)左侧均固定连接有伸缩块(17)，两个所述夹板(15)左侧底端均固定连接有支撑板(18)。
5.根据权利要求1所述的一种存储器芯片再制造测试机，其特征在于：所述底板(11)顶部右端固定连接有支撑架(19)，所述支撑架(19)左侧安装有芯片检测仪(20)。
6.根据权利要求1所述的一种存储器芯片再制造测试机，其特征在于：所述底板(11)底部两端均固定连接有支架腿(21)，两个所述支架腿(21)均在底板(11)底部对称分布。
7.根据权利要求1所述的一种存储器芯片再制造测试机，其特征在于：两个所述推动杆(22)一端内部均与第二固定杆(7)插接固定，两个所述推动杆(22)另一端内部均与第三固定杆(8)插接固定，两个所述活动杆(9)一端内部均与第三固定杆(8)底端活动连接。
