从功率谱密度测量值移除测试设备噪声的制作方法

allin2026-02-12  6


本说明书描述用于从器件信号的功率谱密度测量值移除测试设备噪声的技术的示例性具体实现。


背景技术:

1、功率谱密度或“psd”指定存在于信号中的频率分量的功率电平。本质上,psd定义了信号的功率与信号的频率之间的关系。

2、测试设备被配置为测试被称为被测器件(dut)的电子器件的操作。频谱分析器件是测试设备的部件,该测试设备尤其被配置为测量来自dut的信号(“dut信号”)的psd。频谱分析器件的示例是矢量信号分析器(vsa)。在操作期间,vsa向dut信号添加噪声。在一些类型的vsa中,特别是较旧或“传统”vsa中,由vsa添加的噪声淹没了dut信号的部分,使得dut信号的psd测量值是不准确或不可能的。


技术实现思路

1、一种示例性方法包括以下操作:(i)从被测器件(dut)接收器件信号;(ii)设定衰减值;(iii)将衰减值应用于器件信号以产生用于频谱分析器件的衰减的器件信号,其中频谱分析器件产生噪声信号;(iv)使用频谱分析器件获得功率谱密度值,其中功率谱密度包括基于衰减的器件信号和噪声信号的组合信号在频率值处的功率;(v)重复操作(ii)、(iii)和(iv)一次或多次以产生多个功率谱密度值;(vi)重复操作(i)、(ii)、(iii)、(iv)和(v)一次或多次以将功率谱密度值加到多个功率谱密度值;以及(vii)通过执行基于多个功率谱密度值的优化过程,通过从组合信号移除噪声信号中的至少一些噪声信号来获得器件信号的功率谱密度。示例性方法可包括下列特征中的一个或多个(单独地或组合地)。

2、优化过程可以产生噪声信号的功率谱密度和器件信号的功率谱密度。可以通过从多个功率谱密度值中减去频谱分析设备噪声信号的功率谱密度来获得器件信号的功率谱密度。

3、优化过程可以包括以下操作:(viii)在多个频率值中选择频率值;(ix)使用多个功率谱密度值中的与所选定的频率值相关联的一个功率谱密度值来执行优化;以及(x)重复操作(viii)和(ix)一次或多次以获得用于器件信号的功率谱密度值。优化过程可以是基于使差最小化的函数,该差是基于用于组合信号的多个功率谱密度值中的多个功率谱密度值和对应理论功率谱密度值。

4、器件信号的功率谱密度可以在频域中。可以在数字步进衰减器(dsa)中设定衰减值。dsa可以是频谱分析器件的一部分。dsa可以位于频谱分析器件外部。

5、操作(i)至(vi)可以在频谱分析器件上、在测试仪器上或者在频谱分析器件和测试仪器两者上进行。操作(ix)可以由一个或多个处理器件执行。

6、每个频率值可以对应于覆盖多个频率的跨度的区间。dut可以是或包括网络基础结构设备,并且频谱分析器件可以是或包括矢量信号分析器。

7、一种示例性系统包括一个或多个装置,该一个或多个装置包括产生噪声信号的频谱分析器件。该一个或多个装置可以被配置为执行操作,该操作包括:(i)从被测器件(dut)接收器件信号;(ii)设定衰减值;(iii)将衰减值应用于器件信号以产生用于频谱分析器件的衰减的器件信号,其中频谱分析器件产生噪声信号;(iv)使用频谱分析器件获得功率谱密度值,其中功率谱密度包括基于衰减的器件信号和噪声信号的组合信号在频率值处的功率;(v)重复操作(ii)、(iii)和(iv)一次或多次以产生多个功率谱密度值;以及(vi)重复操作(i)、(ii)、(iii)、(iv)和(v)一次或多次以将功率谱密度值加到多个功率谱密度值。该一个或多个装置包括被配置为执行操作的一个或多个处理器件,该操作包括(vii)通过执行基于多个功率谱密度值的优化过程,通过从组合信号移除噪声信号中的至少一些噪声信号来获得器件信号的功率谱密度。该系统可包括下列特征中的一者或多者(单独地或组合地)。

8、优化过程可以产生噪声信号的功率谱密度和器件信号的功率谱密度。可以通过从多个功率谱密度值中减去噪声信号的功率谱密度来获得器件信号的功率谱密度。

9、优化过程可以包括以下操作:(viii)在多个频率值中选择频率值;(ix)对多个功率谱密度值中的与所选定的频率值相关联的多个功率谱密度值执行优化;以及(x)重复操作(viii)和(ix)一次或多次以获得用于器件信号的功率谱密度值。优化过程可以是基于使差最小化的函数,该差是基于用于组合信号的多个功率谱密度值中的多个功率谱密度值和对应理论功率谱密度值。

10、器件的功率谱密度可以在频域中。该一个或多个装置可以包括用于设定衰减值的dsa,以及频谱信号分析器。dsa可以是频谱分析器件的一部分。dsa可以位于频谱分析器件外部。dsa可以位于dut与频谱分析器件之间。

11、一个或多个处理器件可以是频谱分析设备的一部分。系统可以包括测试仪器,该测试仪器包括以下各项中的至少一者:装置或一个或多个处理器件。

12、每个频率值可以对应于覆盖多个频率的跨度的区间。dut可以是或包括网络基础结构设备,并且频谱分析器件可以是或包括矢量信号分析器。

13、本说明书(包括本
技术实现要素:
部分)中所描述的特征中的任何两者或更多者可组合以形成本说明书中未具体描述的具体实施。

14、本说明书中所描述的装置、器件、系统和过程的至少一部分可通过在一个或多个处理器件上执行存储在一个或多个非暂态机器可读存储介质上的指令来配置或控制。非暂态机器可读存储介质的示例包括只读存储器、光盘驱动器、存储器磁盘驱动器和随机存取存储器。本说明书中所描述的装置、器件、系统和过程的至少一部分可使用由一个或多个处理器件和存储指令的存储器组成的计算系统来配置或控制,这些指令可由该一个或多个处理器件执行以进行各种控制操作。本说明书中所描述的装置、器件、系统和过程可例如通过设计、构造、构成、布置、放置、编程、操作、激活、停用和/或控制来配置。

15、附图和以下具体实施方式中阐述了一个或多个具体实施的详细信息。通过具体实施和附图以及通过权利要求书,其他特征和优点将显而易见。



技术特征:

1.一种方法,所述方法包括以下操作:

2.根据权利要求1所述的方法,其中所述优化过程产生所述噪声信号的功率谱密度和所述器件信号的功率谱密度;并且

3.根据权利要求1所述的方法,其中所述优化过程包括以下操作:

4.根据权利要求3所述的方法,其中所述优化过程是基于使差最小化的函数,所述差是基于用于所述组合信号的所述多个功率谱密度值中的多个功率谱密度值和对应理论功率谱密度值。

5.根据权利要求1所述的方法,其中所述器件信号的所述功率谱密度在频域中。

6.根据权利要求1所述的方法,其中在数字步进衰减器(dsa)中设定所述衰减值,所述dsa是所述频谱分析器件的一部分。

7.根据权利要求1所述的方法,其中在数字步进衰减器(dsa)中设定所述衰减值,所述dsa位于所述频谱分析器件外部。

8.根据权利要求1所述的方法,其中操作(i)至(vi)在所述频谱分析器件上执行;并且

9.根据权利要求1所述的方法,其中操作(i)至(vii)在测试仪器上执行。

10.根据权利要求1所述的方法,其中每个频率值对应于覆盖多个频率的跨度的区间。

11.根据权利要求1所述的方法,其中所述dut包括网络基础结构设备,并且所述频谱分析器件包括矢量信号分析器。

12.一种系统,所述系统包括:

13.根据权利要求12所述的系统,其中所述优化过程产生所述噪声信号的功率谱密度和所述器件信号的功率谱密度;并且

14.根据权利要求12所述的系统,其中所述优化过程包括所述以下操作:

15.根据权利要求14所述的方法,其中所述优化过程是基于使差最小化的函数,所述差是基于用于所述组合信号的所述多个功率谱密度值中的多个功率谱密度值和对应理论功率谱密度值。

16.根据权利要求12所述的系统,其中所述器件信号的所述功率谱密度在所述频域中。

17.根据权利要求12所述的系统,其中所述一个或多个装置包括:

18.根据权利要求12所述的系统,其中所述一个或多个装置包括:

19.根据权利要求12所述的系统,其中所述一个或多个装置包括:

20.根据权利要求12所述的系统,其中所述一个或多个处理器件是所述频谱分析器件的一部分。

21.根据权利要求12所述的系统,所述系统还包括:

22.根据权利要求12所述的系统,其中每个频率值对应于覆盖多个频率的跨度的区间。

23.根据权利要求12所述的系统,其中所述dut包括网络基础结构设备,并且所述频谱分析器件包括矢量信号分析器。


技术总结
本发明涉及从功率谱密度测量值移除测试设备噪声。一种示例性方法包括以下操作:(i)从被测器件(DUT)接收器件信号;(ii)设定衰减值;(iii)将该衰减值应用于该器件信号以产生用于频谱分析器件的衰减的器件信号,其中该频谱分析器件产生噪声信号;(iv)使用该频谱分析器件获得功率谱密度值,其中功率谱密度包括基于该衰减的器件信号和该噪声信号的组合信号在频率值处的功率;(v)重复操作(ii)、(iii)和(iv)一次或多次以产生多个功率谱密度值;(vi)重复操作(i)、(ii)、(iii)、(iv)和(v)一次或多次以将功率谱密度值加到该多个功率谱密度值;以及(vii)获得该器件信号的功率谱密度。

技术研发人员:曹晨,克里斯蒂安·沃尔夫·厄尔高,王瑞祖,卢庆杰
受保护的技术使用者:莱特普茵特公司
技术研发日:
技术公布日:2024/10/31
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