本公开的技术涉及嵌入式存储器测试。所公开的技术的各种实现方式对于系统内存储器测试可能特别有用。
背景技术：
1、当前高密度半导体通常包括嵌入式存储器。与其它电路相比，存储器的设计严格受技术限制，存储器更容易出现故障，这不仅会影响制造良率，还会对电路可靠性造成不利影响。通常使用内建自测(bist)技术来识别存储器中的缺陷和问题。此外，具有嵌入式存储器的电路通常包括内建自修复(bisr)电路，用于执行修复分析(内建修复分析或称为bira)并用于将故障元件替换为备用元件。与制造测试不同，系统内测试通常在系统的功能操作期间进行。例如，为了提高功能安全性，汽车中的芯片要能在故障影响其操作之前不仅检测出逻辑中的潜在故障，还要能检测出存储器中的潜在故障。这种系统内测试需要以非破坏性(也称为透明)的方式进行，保留正要测试的存储器单元的初始内容。然而，设计这样一种存储器测试电路是困难的：该存储器测试电路不仅可以进行在线透明测试，而无需将被测试的存储器长时间置于离线状态，而且不需要太大的硅面积。
技术实现思路
1、所公开的技术的各个方面涉及以非破坏性方式测试存储器。在一个方面中，电路中有一种存储器测试电路，其可配置为对电路中的存储器执行测试，同时保留存储器的内容，所述电路包括：测试控制器；存储器数据源选择设备，其被配置为从来自存储器的输出的数据和从测试控制器输出的测试数据中选择存储器的写入端口的输入数据；和存储器地址源选择设备，其被配置为从存储器的一个或多个预设地址中的一者和从测试控制器输出的地址中选择存储器的地址端口的地址，所述一个或多个预设地址对应于存储器的一个或多个保留位置，所述一个或多个保留位置被配置为临时存储测试中待测试的存储器的一个或多个位置的数据。
2、存储器的一个或多个预设地址可以是存储器的第一个地址或最后一个地址。
3、所述测试可以包括：读取待测试的存储器的一个或多个位置的内容；将所述内容写入所述存储器的一个或多个保留位置中；将测试算法应用于待测试的存储器的一个或多个位置；读取存储在所述存储器的一个或多个保留位置中的内容；和将存储在所述存储器的所述一个或多个保留位置中的内容写回到待测试的存储器的所述一个或多个位置中。
4、测试控制器可以为存储器数据源选择设备生成第一选择控制信号，为存储器地址源选择设备生成第二选择控制信号。所述一个或多个预设地址可以具有多于一个的地址，所述测试控制器可以生成第三选择控制信号，用于控制选择所述一个或多个预设地址中的哪一个进行写入操作或读取操作。
5、来自存储器的输出的数据可以通过比较器、寄存器或这两者，然后耦合到存储器数据源选择设备的输入。
6、存储器可以是多端口存储器，并且具有读取和写入能力的端口可以用于将数据写入存储器的一个或多个保留位置。
7、在另一方面中，存在存储计算机可执行指令的一种或多种计算机可读介质，所述计算机可执行指令用于使计算机执行方法，所述方法包括：在电路设计中创建上述存储器测试电路，所述存储器测试电路可配置为在电路设计中对存储器执行测试，同时保留所述存储器的内容。
8、在又一方面中，存在一种用于测试电路中的存储器的方法，所述测试由电路中的存储器测试电路来执行，所述方法包括：读取待测试的存储器的一个或多个位置的内容；将所述内容写入所述存储器的一个或多个保留位置中；将测试算法应用于待测试的存储器的一个或多个位置；读取存储在所述存储器的一个或多个保留位置中的内容；和将存储在所述存储器的所述一个或多个保留位置中的内容写回到待测试的存储器的所述一个或多个位置中。存储器的一个或多个保留位置可以对应于存储器的第一个地址或最后一个地址。
9、在所附独立权利要求和从属权利要求中阐述了某些发明方面。从属权利要求的特征可以与独立权利要求的特征以及其它从属权利要求的特征适当地组合，而不仅仅是如权利要求中明确阐述的那样。
10、上文已经描述了本发明的各个方面的某些目的和优点。当然，应当理解，并不必须所有这些目的或优点都可以根据所公开的技术的任何特定实施例来实现。因此，例如，本领域技术人员将认识到，所公开的技术可以以实现或优化如本文所教导的一个优点或一组优点的方式来具体实施或进行，而不必实现如本文所教导或建议的其他目的或优点。
1.一种电路中的存储器测试电路，所述存储器测试电路可配置为对所述电路中的存储器执行测试，同时保留所述存储器的内容，所述存储器测试电路包括：
2.根据权利要求1所述的存储器测试电路，其中，所述存储器的所述一个或多个预设地址为所述存储器的第一个地址或最后一个地址。
3.根据权利要求1所述的存储器测试电路，其中，所述测试包括：
4.根据权利要求1所述的存储器测试电路，其中，所述测试控制器生成用于所述存储器数据源选择设备的第一选择控制信号和用于所述存储器地址源选择设备的第二选择控制信号。
5.根据权利要求4所述的存储器测试电路，其中，所述一个或多个预设地址具有多于一个的地址，并且所述测试控制器生成第三选择控制信号，用于控制选择所述一个或多个预设地址中的哪一个预设地址进行写入操作或读取操作。
6.根据权利要求1所述的存储器测试电路，其中，所述来自所述存储器的输出的数据通过比较器、寄存器或这两者，然后耦合到所述存储器数据源选择设备的输入。
7.根据权利要求1所述的存储器测试电路，其中，所述存储器为多端口存储器，并且具有读取和写入能力的端口用于将数据写入所述存储器的所述一个或多个保留位置中。
8.一种或多种计算机可读介质，所述计算机可读介质存储计算机可执行指令，所述计算机可执行指令用于使计算机执行方法，所述方法包括：
9.根据权利要求8所述的一种或多种计算机可读介质，其中，所述存储器的所述一个或多个预设地址是所述存储器的第一个地址或最后一个地址。
10.根据权利要求8所述的一种或多种计算机可读介质，其中，所述测试包括：
11.根据权利要求8所述的一种或多种计算机可读介质，其中，所述测试控制器生成用于所述存储器数据源选择设备的第一选择控制信号和用于所述存储器地址源选择设备的第二选择控制信号。
12.根据权利要求11所述的一种或多种计算机可读介质，其中，所述一个或多个预设地址具有多于一个的地址，并且所述测试控制器生成第三选择控制信号，用于控制选择所述一个或多个预设地址中的哪一个预设地址进行写入操作或读取操作。
13.根据权利要求8所述的一种或多种计算机可读介质，其中，所述来自所述存储器的输出的数据通过比较器、寄存器或这两者，然后耦合到所述存储器数据源选择设备的输入。
14.根据权利要求8所述的一种或多种计算机可读介质，其中，所述存储器为多端口存储器，并且具有读取和写入能力的端口用于将数据写入所述存储器的所述一个或多个保留位置中。
15.一种用于测试电路中的存储器的方法，所述测试由所述电路中的存储器测试电路来执行，所述方法包括：
16.根据权利要求15所述的方法，其中，所述存储器的所述一个或多个保留位置对应于所述存储器的第一个地址或最后一个地址。
