一种用于检测线路板过孔caf失效性的测试方法
技术领域
1.本发明涉及电子产品检测技术领域，尤其涉及一种用于检测线路板过孔caf失效性的测试方法。
背景技术：2.近年来，随着电子产品向着轻、薄、短、小和多功能化方向发展促使线路板上的线路设计趋于密集化，精细化，电路集成密度越来越高，孔间距越来越小。这使得印制电路板对过孔的可靠性要求也相应提高，特别在汽车电子领域中，对耐高温高湿环境的要求较高。往往线路板过孔设计的不合理，将会容易导致出现孔铜断层或断裂等不良缺陷现象。如果线路板的过孔出现caf(conductive anodic filament，导电阳极丝、阳极性玻纤维漏电)，将会影响到整个产品的性能，严重地会影响到汽车安全功能。因此，需要一种caf失效测试方法，得到退化失效的测试数据，从而推算出失效和退化时间，来提高产品的可靠性。
技术实现要素：3.本发明公开一种用于检测线路板过孔caf失效性的测试方法，用于解决现有技术中，线路板过孔的不良现象影响产品可靠性的问题。
4.为了解决上述问题，本发明采用下述技术方案：
5.一种线路板过孔caf失效性测试方法，包括：
6.提供一个测试板，所述测试板一端设有至少两个焊盘，用于与电阻测试仪连接，另一端设有多个过孔，所述过孔之间通过走线连接；所述测试板的过孔大小、所述过孔的间距、所述走线的宽度，与待测试的线路板的过孔大小、过孔间距、走线宽度相同；
7.测量所述测试板的过孔电阻值，为初始电阻值；
8.将所述测试板放入冷热冲击实验设备，并采用第一温度和第二温度循环实验；
9.取出所述测试板，放置室温下静置；
10.使用电阻测试仪测量所述测试板的过孔电阻值，为实验电阻值；
11.计算所述实验电阻值和所述初始电阻值的变化率；
12.若所述实验电阻值与所述初始电阻值的变化率不低于设定阈值，结束测试，推算失效时间；
13.若所述实验电阻值与所述初始电阻值的变化率小于设定阈值，再次将所述测试板放入冷热冲击实验设备，并采用所述第一温度和第二温度循环，并取出所述测试板，放置室温下静置，再次测试所述实验电阻值，直至测试的所述实验电阻值与所述初始电阻值的变化率不低于设定阈值，结束测试，推算失效时间。
14.在上述方案中，所述第一温度为100～150℃，所述第二温度为-50～-30℃。
15.在上述方案中，每次所述测试板放入冷热冲击实验设备后，所述第一温度和所述第二温度循环70～120次。
16.在上述方案中，在一个循环周期中，所述第一温度的冲击时间为10～20min，所述
第二温度的冲击时间为10～20min，所述第一温度和所述第二温度的转换时间不超过5min。
17.在上述方案中，所述测试板在所述冷热冲击实验设备取出后，在室温下静置时间为1～3h。
18.在上述方案中，静置后所述测试板的温度不低于20℃。
19.在上述方案中，所述焊盘设有四个。
20.在上述方案中，所述电阻测试仪包括4线端子电阻测试仪。
21.在上述方案中，所述实验电阻值与所述初始电阻值的变化率的设定阈值为
±
10％。
22.在上述方案中，所述失效时间的推算包括：
23.所述实验电阻值与所述初始电阻值的变化率不低于设定阈值时，确定所述第一温度和第二温度循环的次数；
24.推算出失效时间，推算公式为：
25.t＝n/c；
26.式中，t为推算失效时间，单位为年，n为实验循环次数，c为转换固定常量30。
27.本发明采用的技术方案能够达到以下有益效果：
28.使用测试板模拟待测试的线路板的线路状态，并且对测试板进行冷热冲击实验，得到退化失效的测试数据，能够推算出待测试线路板的失效和退化时间，方便优化线路板的设计，提高产品的可靠性。
附图说明
29.为了更清楚地说明本发明实施例的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍，构成本发明的一部分，本发明的示意性实施例及其说明解释本发明，并不构成对本发明的不当限定。在附图中：
30.图1为本发明实施例1公开的线路板过孔caf失效性测试方法的流程图；
31.图2为本发明实施例1公开的用于检测线路板过孔caf失效性的测试板的整体结构示意图；
32.图3为本发明实施例2公开的线路板过孔caf失效性测试方法的实验结果的折线图。
33.具体包括下述附图标记：
34.测试板-10；焊盘-11；过孔-12；走线-13。
具体实施方式
35.为使本发明的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本发明具体实施例及相应的附图对本发明技术方案进行清楚、完整地描述。显然，所描述的实施例仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。
36.实施例1
37.本发明还提供了一种线路板过孔caf失效性测试方法，结合图1和图2所示，包括：
38.提供一个测试板10，测试板10一端设有至少两个焊盘11，用于与电阻测试仪连接，
另一端设有多个过孔12，过孔12之间通过走线13连接，优选的，多条走线13设置在不同层，并且通过过孔12连接；过孔12的大小、过孔12的间距、走线13的宽度，与待测试的线路板的过孔大小、过孔间距、走线宽度相同；
39.测量测试板10的过孔12电阻值，为初始电阻值；
40.将测试板10放入冷热冲击实验设备，并采用第一温度和第二温度循环实验；
41.取出测试板10，放置室温下静置；
42.使用电阻测试仪测量测试板10的过孔电阻值，为实验电阻值；
43.计算实验电阻值和初始电阻值的变化率；
44.若实验电阻值与初始电阻值的变化率不低于设定阈值，结束测试，推算失效时间；
45.若实验电阻值与初始电阻值的变化率小于设定阈值，再次将测试板10放入冷热冲击实验设备，并采用第一温度和第二温度循环，并取出测试板10，放置室温下静置，再次测试实验电阻值，直至测试的实验电阻值与初始电阻值的变化率不低于设定阈值，结束测试，推算失效时间。
46.本发明使用测试板10模拟待测试线路板进行实验，得到退化失效的测试数据，能够推算出待测试线路板的失效和退化时间，方便优化线路板的设计，提高产品的可靠性。按照待测试的线路板的结构制作测试板10，保证实验数据的可靠性。
47.第一温度为100～150℃，第二温度为-50～-30℃。本实施例优选的，第一温度为125℃，第二温度为-40℃。
48.测试板10放入冷热冲击实验设备后，第一温度和第二温度循环70～120次。本实施例优选的，循环次数为100次。
49.在一个循环周期中，第一温度的冲击时间为10～20min，第二温度的冲击时间为10～20min，第一温度和所述第二温度的转换时间不超过5min。本实施例优选的，第一温度的冲击时间为15min，第二温度的冲击时间为15min。
50.测试板10在冷热冲击实验设备取出后，在室温下静置时间为1～3h。优选的，静置时间为2h，使测试板10的温度大致恢复至室温。
51.静置后测试板10的温度不低于20℃，优选的，测试板10静置至25℃，与室温相同。
52.本实施例优选的，设置四个焊盘11，并且配合4线端子电阻测试仪使用。
53.本实施例优选的，实验电阻值与初始电阻值的变化率的设定阈值为
±
10％。
54.失效时间的推算包括：
55.实验电阻值与初始电阻值的变化率不低于设定阈值时，确定第一温度和第二温度循环的次数；
56.推算出失效时间，推算公式为：
57.t＝n/c；
58.式中，t为推算失效时间，单位为年，n为实验循环次数，c为转换固定常量30。
59.实施例2
60.本实施例提供了一个实施例1中的测试板10，具体的，本实施例提供的测试板10的过孔12直径0.2mm，测试板10采用环氧玻璃纤维板制成，且测试板10有4层。并且采用实施例1中的测试方法进行测试，具体测试结果如下表：
61.表1
62.循环次数电阻变化率001002％2003％3005％4007％50010％
63.电阻值变化率的曲线图，如图3所示，根据表1可知，在循环次数为500次时，电阻值的变化率达到了10％，因此套用实施例1中的公式，本实施例中，过孔12的失效时间为：t＝500/30＝17年。
64.本发明使用测试板模拟待测试的线路板的线路状态，并且对测试板进行冷热冲击实验，得到退化失效的测试数据，能够推算出待测试线路板的失效和退化时间，方便优化线路板的设计，提高产品的可靠性。
65.上面结合附图对本发明的实施例进行了描述，但是本发明并不局限于上述的具体实施方式，上述的具体实施方式仅仅是示意性的，而不是限制性的，本领域的普通技术人员在本发明的启示下，在不脱离本发明宗旨和权利要求所保护的范围情况下，还可做出很多形式，均属于本发明的保护之内。
技术特征：1.一种线路板过孔caf失效性测试方法，其特征在于，包括：提供一个测试板，所述测试板一端设有至少两个焊盘，用于与电阻测试仪连接，另一端设有多个过孔，所述过孔之间通过走线连接；所述测试板的过孔大小、所述过孔的间距、所述走线的宽度，与待测试的线路板的过孔大小、过孔间距、走线宽度相同；测量所述测试板的过孔电阻值，为初始电阻值；将所述测试板放入冷热冲击实验设备，并采用第一温度和第二温度循环实验；取出所述测试板，放置室温下静置；使用电阻测试仪测量所述测试板的过孔电阻值，为实验电阻值；计算所述实验电阻值和所述初始电阻值的变化率；若所述实验电阻值与所述初始电阻值的变化率不低于设定阈值，结束测试，推算失效时间；若所述实验电阻值与所述初始电阻值的变化率小于设定阈值，再次将所述测试板放入冷热冲击实验设备，并采用所述第一温度和第二温度循环，并取出所述测试板，放置室温下静置，再次测试所述实验电阻值，直至测试的所述实验电阻值与所述初始电阻值的变化率不低于设定阈值，结束测试，推算失效时间。2.根据权利要求1所述的线路板过孔caf失效性测试方法，其特征在于，所述第一温度为100～150℃，所述第二温度为-50～-30℃。3.根据权利要求1所述的线路板过孔caf失效性测试方法，其特征在于，每次所述测试板放入冷热冲击实验设备后，所述第一温度和所述第二温度循环70～120次。4.根据权利要求1所述的线路板过孔caf失效性测试方法，其特征在于，在一个循环周期中，所述第一温度的冲击时间为10～20min，所述第二温度的冲击时间为10～20min，所述第一温度和所述第二温度的转换时间不超过5min。5.根据权利要求1所述的线路板过孔caf失效性测试方法，其特征在于，所述测试板在所述冷热冲击实验设备取出后，在室温下静置时间为1～3h。6.根据权利要求1所述的线路板过孔caf失效性测试方法，其特征在于，静置后所述测试板的温度不低于20℃。7.根据权利要求1所述的线路板过孔caf失效性测试方法，其特征在于，所述焊盘设有四个。8.根据权利要求7所述的线路板过孔caf失效性测试方法，其特征在于，所述电阻测试仪包括4线端子电阻测试仪。9.根据权利要求1所述的线路板过孔caf失效性测试方法，其特征在于，所述实验电阻值与所述初始电阻值的变化率的设定阈值为
±
10%。10.根据权利要求1所述的线路板过孔caf失效性测试方法，其特征在于，所述失效时间的推算包括：所述实验电阻值与所述初始电阻值的变化率不低于设定阈值时，确定所述第一温度和第二温度循环的次数；推算出失效时间，推算公式为：t = n / c；式中，t为推算失效时间，单位为年，n为实验循环次数，c为转换固定常量30。
技术总结本发明公开了一种用于检测线路板过孔CAF失效性的测试方法，包括：提供一个测试板，测试板的过孔大小、过孔的间距、走线的宽度，与待测试的线路板的过孔大小、过孔间距、走线宽度相同；测量测试板的过孔电阻值，为初始电阻值；将测试板放入冷热冲击实验设备，并采用第一温度和第二温度循环实验；取出测试板，放置室温下静置；使用电阻测试仪测量测试板的过孔电阻值，为实验电阻值；直至测试的实验电阻值与初始电阻值的变化率不低于设定阈值，推算失效时间。本发明使用测试板模拟待测试的线路板的线路状态，并且对测试板进行冷热冲击实验，得到退化失效的测试数据，推算出待测试线路板的失效和退化时间，方便优化线路板的设计，提高产品的可靠性。品的可靠性。品的可靠性。
技术研发人员：徐小古
受保护的技术使用者：信利光电股份有限公司
技术研发日：2022.02.18
技术公布日：2022/7/5
