一种gip电路检测装置
技术领域
1.本实用新型涉及电路检测技术领域，具体而言，涉及一种gip电路检测装置。
背景技术：2.lcd，对于许多的用户而言可能是一个并不算新鲜的名词了，不过这种技术存在的历史可能远远超过了我们的想像。早在19世纪末，奥地利植物学家就发现了液晶，即液态的晶体，也就是说一种物质同时具备了液体的流动性和类似晶体的某种排列特性。在电场的作用下，液晶分子的排列会产生变化，从而影响到它的光学性质，这种现象叫做电光效应。利用液晶的电光效应，英国科学家在上世纪制造了第一块液晶显示器即lcd，世界上第一台液晶显示设备出现20世纪70年代初，被称之为tn-lcd(扭曲向列)液晶显示器。尽管是单色显示，它仍被推广到了电子表、计算器等领域。
3.针对中国发明公布号一种gip信号检测电路、gip信号检测方法和平板显示装置，其内容为“一信号测试走线、一时钟信号线、第一薄膜晶体管和多个第二薄膜晶体管；所述第一薄膜晶体管连接在所述时钟信号线与信号测试走线之间，其栅极与所述信号测试走线连接；所述信号测试走线通过所述多个第二薄膜晶体管分别接收多级gip信号，并根据所述多级gip信号输出测试信号。在本发明提供的gip信号检测电路、gip信号检测方法和平板显示装置中，采用新型的gip信号检测电路，只需要一条信号测试走线就能够对每一级gip信号进行检测，使得所述平板显示装置在基本不增加走线的基础上确保了gip电路的可靠性”4.但在实际使用的过程中仍有不足，在对gip电路检测时，由于gip电路因其结构复杂，难以检测电路异常而产生的横线亮暗线，横纹，分屏画异等不良。因此我们对此做出改进，提出一种gip电路检测装置。
技术实现要素：5.本实用新型的目的在于：针对目前存在的在对gip电路检测时，由于gip电路因其结构复杂，难以检测电路异常而产生的横线亮暗线，横纹，分屏画异等不良问题。
6.为了实现上述发明目的，本实用新型提供了以下技术方案：
7.gip电路检测装置，以改善上述问题。
8.本技术具体是这样的：
9.包括tft特性测试仪器探针台和探针，所述探针位于tft特性测试仪器探针台上，所述tft特性测试仪器探针台的顶部设置有观测部，所述观测部与tft特性测试仪器探针台之间设置有调节机构，所述调节机构用于调节观测部的高度，所述tft特性测试仪器探针台的一侧分别设置有第一检测部和第二检测部，所述tft特性测试仪器探针台、探针、第一检测部和第二检测部组合用于检测gip电路。
10.作为本技术优选的技术方案，所述观测部为om显微镜头。
11.作为本技术优选的技术方案，所述第一检测部为点灯机，且点灯机与tft特性测试仪器探针台固定连接。
12.作为本技术优选的技术方案，所述第二检测部为示波器，且示波器与tft特性测试仪器探针台固定连接。
13.作为本技术优选的技术方案，所述探针分别与点灯机和示波器电性连接。
14.作为本技术优选的技术方案，所述调节机构包括限位柱，所述限位柱的底端与tft特性测试仪器探针台顶端的一侧固定连接，所述限位柱上套设有滑套，所述滑套的一侧固定设有第一连接杆，且第一连接杆的一端与om显微镜头固定连接，所述滑套的另一侧螺纹连接有螺栓，且螺栓的一端穿过滑套并与限位柱相接触。
15.作为本技术优选的技术方案，所述调节机构由移位部和传动部组成。
16.作为本技术优选的技术方案，所述移位部包括限位板，所述限位板的底端与tft特性测试仪器探针台顶端的一侧固定连接，所述限位板内开设有限位槽，所述限位槽的中部转动连接有螺纹杆，所述螺纹杆上螺纹连接有内螺纹筒，所述内螺纹筒的一侧固定设有第二连接杆，所述限位槽的一侧开设有与外界相通的滑槽，且第二连接杆的一端穿出滑槽并与om显微镜头固定连接。
17.作为本技术优选的技术方案，所述传动部包括第一锥齿轮，所述第一锥齿轮与螺纹杆的顶端固定连接，所述第一锥齿轮的一侧啮合连接有第二锥齿轮，所述第二锥齿轮固定设有转轴，所述转轴的一端穿出限位板并固定设有摇杆。
18.作为本技术优选的技术方案，所述摇杆上设有防滑套。
19.与现有技术相比，本实用新型的有益效果：
20.在本技术的方案中：
21.1.通过设置的tft特性测试仪器探针台，配合探针，可以扎破覆盖pi从而测试gip q点和g-out输出电路，通过观测部，可以观测探针测试点位，测试信号通过探针及信号线传入第二检测部，从而得到第一检测部信号输出波形判断该gip电路是否存在异常；
22.2.通过设置的调节机构，使用者可以一只手转动调节机构的摇杆，可以使得调节机构的移位部运作，在移位部的作用下，可以在检测人员通过观测部观测时移动检测部，进而可以更好的观测探针测试点位，便于电路的检测。
附图说明
23.图1为本技术提供的gip电路检测装置的实施例一的结构示意图；
24.图2为本技术提供的gip电路检测装置的实施例二的结构示意图；
25.图3为本技术提供的gip电路检测装置的实施例二的调节机构的剖面结构示意图；
26.图4为本技术提供的gip电路检测装置的实施例二的调节机构都剖面局部结构示意图。
27.图中标示：
28.1、tft特性测试仪器探针台；
29.2、探针；
30.3、观测部；
31.4、调节机构；
32.4101、限位柱；4102、滑套；4103、第一连接杆；4104、螺栓；
33.4201、限位板；4202、螺纹杆；4203、内螺纹筒；4204、第二连接杆；4205、第一锥齿
轮；4206、第二锥齿轮；4207、转轴；
34.5、第一检测部；
35.6、第二检测部。
具体实施方式
36.为使本实用新型实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整的描述。显然，所描述的实施例是本实用新型的一部分实施例，而不是全部的实施例。
37.因此，以下对本实用新型的实施例的详细描述并非旨在限制要求保护的本实用新型的范围，而是仅仅表示本实用新型的部分实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。
38.需要说明的是，在不冲突的情况下，本实用新型中的实施例及实施例中的特征和技术方案可以相互组合。
39.应注意到：相似的标号和字母在下面的附图中表示类似项，因此，一旦某一项在一个附图中被定义，则在随后的附图中不需要对其进行进一步定义和解释。
40.在本实用新型的描述中，需要说明的是，术语“上”、“下”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，或者是该发明产品使用时惯常摆放的方位或位置关系，或者是本领域技术人员惯常理解的方位或位置关系，这类术语仅是为了便于描述本实用新型和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本实用新型的限制。此外，术语“第一”、“第二”等仅用于区分描述，而不能理解为指示或暗示相对重要性。
41.实施例一：
42.如图1所示，本实施方式提出一种gip电路检测装置，包括tft特性测试仪器探针台1和探针2，探针2位于tft特性测试仪器探针台1上，tft特性测试仪器探针台1的顶部设置有观测部3，观测部3与tft特性测试仪器探针台1之间设置有调节机构4，调节机构4用于调节观测部3的高度，tft特性测试仪器探针台1的一侧分别设置有第一检测部5和第二检测部6，tft特性测试仪器探针台1、探针2、第一检测部5和第二检测部6组合用于检测gip电路，该装置也可以用于检测goa电路。
43.如图1所示，作为优选的实施方式，在上述方式的基础上，进一步的，观测部3为om显微镜头，检测人员通过om显微镜头，可以观测探针2测试点位。
44.如图1所示，作为优选的实施方式，在上述方式的基础上，进一步的，第一检测部5为点灯机，且点灯机与tft特性测试仪器探针台1固定连接。
45.如图1所示，作为优选的实施方式，在上述方式的基础上，进一步的，第二检测部6为示波器，且示波器与tft特性测试仪器探针台1固定连接。
46.如图1所示，作为优选的实施方式，在上述方式的基础上，进一步的，探针2分别与点灯机和示波器电性连接，通过设置的tft特性测试仪器探针台1，配合探针2，可以扎破覆盖pi从而测试gip q点和g-out输出电路，测试信号通过探针2及信号线传入示波器，从而得到点灯机信号输出波形判断该gip电路是否存在异常。
47.如图1所示，作为优选的实施方式，在上述方式的基础上，进一步的，调节机构4包括限位柱4101，限位柱4101的底端与tft特性测试仪器探针台1顶端的一侧固定连接，限位柱4101上套设有滑套4102，滑套4102的一侧固定设有第一连接杆4103，且第一连接杆4103的一端与om显微镜头固定连接，滑套4102的另一侧螺纹连接有螺栓4104，且螺栓4104的一端穿过滑套4102并与限位柱4101相接触，根据个人的身高来调节om显微镜头的高度，检测人员一只手托住om显微镜头，检测人员另一只手转动螺栓4104，随着螺栓4104的转动，螺栓4104的一端与限位柱4101分开，此时可以移动滑套4102，滑套4102移动可以带动第一连接杆4103移动，第一连接杆4103移动可以带动om显微镜头移动，进而可以调节om显微镜头的高度。
48.实施例二：
49.下面结合具体的工作方式对实施例一中的方案进行进一步的介绍，详见下文描述：
50.如图1和图2所示，作为优选的实施方式，在上述方式的基础上，进一步的，调节机构4由移位部和传动部组成，检测人员一只手操作传动部，随着传动部的运作，可以使得移位部运作，在移位部的作用下，可以带动om显微镜头上下移动，检测人员无需双手操作调节om显微镜头的高度，并且可以在通过om显微镜头观测探针2测试点位进行微调，可以更好的观测探针2测试点位。
51.如图1、图2和图3所示，作为优选的实施方式，在上述方式的基础上，进一步的，移位部包括限位板4201，限位板4201的底端与tft特性测试仪器探针台1顶端的一侧固定连接，限位板4201内开设有限位槽，限位槽的中部转动连接有螺纹杆4202，螺纹杆4202上螺纹连接有内螺纹筒4203，内螺纹筒4203的一侧固定设有第二连接杆4204，限位槽的一侧开设有与外界相通的滑槽，且第二连接杆4204的一端穿出滑槽并与om显微镜头固定连接，随着螺纹杆4202的转动，可以带动内螺纹筒4203转动，但是在第二连接杆4204的限位作用下，随着螺纹杆4202的转动，可以使得内螺纹筒4203带动第二连接杆4204上下移动，进而可以带动om显微镜头上下移动。
52.如图1、图2、图3和图4所示，作为优选的实施方式，在上述方式的基础上，进一步的，传动部包括第一锥齿轮4205，第一锥齿轮4205与螺纹杆4202的顶端固定连接，第一锥齿轮4205的一侧啮合连接有第二锥齿轮4206，第二锥齿轮4206固定设有转轴4207，转轴4207的一端穿出限位板4201并固定设有摇杆，转动摇杆，摇杆转动可以带动转轴4207转动，随着转轴4207的转动，可以带动第二锥齿轮4206转动，随着第二锥齿轮4206的转动，第二锥齿轮4206可以带动第一锥齿轮4205转动，随着第一锥齿轮4205的转动，可以带动螺纹杆4202转动，随着螺纹杆4202的转动，可以带动内螺纹筒4203转动，但是在第二连接杆4204的限位作用下，随着螺纹杆4202的转动，可以使得内螺纹筒4203带动第二连接杆4204上下移动，进而可以带动om显微镜头上下移动，通过该种调节方式，可以在检测人员通过om显微镜头观测时移动om显微镜头，进而可以更好的观测探针2测试点位，便于电路的检测。
53.如图1、图2、图3和图4所示，作为优选的实施方式，在上述方式的基础上，进一步的，摇杆上设有防滑套，通过防滑套，便于操作摇杆。
54.实施例三：
55.下面结合具体的工作方式对实施例一和实施例二中的方案进行进一步的介绍，详
见下文描述：
56.具体的，本gip电路检测装置在工作时/使用时：首先制备样品，将gip不良屏小心去除边缘覆盖在gip电路的少许cf侧玻璃，去除面积越小越好，对液晶的影响控制在最小，为后续点灯可以更好的观察现象，将检测样品置于tft特性测试仪器探针台1上，根据个人的身高来调节om显微镜头的高度，检测人员一只手托住om显微镜头，检测人员另一只手转动螺栓4104，随着螺栓4104的转动，螺栓4104的一端与限位柱4101分开，此时可以移动滑套4102，滑套4102移动可以带动第一连接杆4103移动，第一连接杆4103移动可以带动om显微镜头移动，进而可以调节om显微镜头的高度，通过设置的tft特性测试仪器探针台1，配合探针2，可以扎破覆盖pi从而测试gip q点和g-out输出电路，检测人员通过om显微镜头，可以观测探针2测试点位，测试信号通过探针2及信号线传入示波器，从而得到点灯机信号输出波形判断该gip电路是否存在异常；转动摇杆，摇杆转动可以带动转轴4207转动，随着转轴4207的转动，可以带动第二锥齿轮4206转动，随着第二锥齿轮4206的转动，第二锥齿轮4206可以带动第一锥齿轮4205转动，随着第一锥齿轮4205的转动，可以带动螺纹杆4202转动，随着螺纹杆4202的转动，可以带动内螺纹筒4203转动，但是在第二连接杆4204的限位作用下，随着螺纹杆4202的转动，可以使得内螺纹筒4203带动第二连接杆4204上下移动，进而可以带动om显微镜头上下移动，通过该种调节方式，可以在检测人员通过om显微镜头观测时移动om显微镜头，进而可以更好的观测探针2测试点位，便于电路的检测。
57.以上实施例仅用以说明本实用新型而并非限制本实用新型所描述的技术方案，尽管本说明书参照上述的各个实施例对本实用新型已进行了详细的说明，但本实用新型不局限于上述具体实施方式，因此任何对本实用新型进行修改或等同替换；而一切不脱离发明的精神和范围的技术方案及其改进，其均涵盖在本实用新型的权利要求范围当中。
技术特征：1.一种gip电路检测装置，包括tft特性测试仪器探针台(1)和探针(2)，其特征在于，所述探针(2)位于tft特性测试仪器探针台(1)上，所述tft特性测试仪器探针台(1)的顶部设置有观测部(3)，所述观测部(3)与tft特性测试仪器探针台(1)之间设置有调节机构(4)，所述调节机构(4)用于调节观测部(3)的高度，所述tft特性测试仪器探针台(1)的一侧分别设置有第一检测部(5)和第二检测部(6)，所述tft特性测试仪器探针台(1)、探针(2)、第一检测部(5)和第二检测部(6)组合用于检测gip电路。2.根据权利要求1所述的一种gip电路检测装置，其特征在于，所述观测部(3)为om显微镜头。3.根据权利要求2所述的一种gip电路检测装置，其特征在于，所述第一检测部(5)为点灯机，且点灯机与tft特性测试仪器探针台(1)固定连接。4.根据权利要求3所述的一种gip电路检测装置，其特征在于，所述第二检测部(6)为示波器，且示波器与tft特性测试仪器探针台(1)固定连接。5.根据权利要求4所述的一种gip电路检测装置，其特征在于，所述探针(2)分别与点灯机和示波器电性连接。6.根据权利要求5所述的一种gip电路检测装置，其特征在于，所述调节机构(4)包括限位柱(4101)，所述限位柱(4101)的底端与tft特性测试仪器探针台(1)顶端的一侧固定连接，所述限位柱(4101)上套设有滑套(4102)，所述滑套(4102)的一侧固定设有第一连接杆(4103)，且第一连接杆(4103)的一端与om显微镜头固定连接，所述滑套(4102)的另一侧螺纹连接有螺栓(4104)，且螺栓(4104)的一端穿过滑套(4102)并与限位柱(4101)相接触。7.根据权利要求6所述的一种gip电路检测装置，其特征在于，所述调节机构(4)由移位部和传动部组成。8.根据权利要求7所述的一种gip电路检测装置，其特征在于，所述移位部包括限位板(4201)，所述限位板(4201)的底端与tft特性测试仪器探针台(1)顶端的一侧固定连接，所述限位板(4201)内开设有限位槽，所述限位槽的中部转动连接有螺纹杆(4202)，所述螺纹杆(4202)上螺纹连接有内螺纹筒(4203)，所述内螺纹筒(4203)的一侧固定设有第二连接杆(4204)，所述限位槽的一侧开设有与外界相通的滑槽，且第二连接杆(4204)的一端穿出滑槽并与om显微镜头固定连接。9.根据权利要求8所述的一种gip电路检测装置，其特征在于，所述传动部包括第一锥齿轮(4205)，所述第一锥齿轮(4205)与螺纹杆(4202)的顶端固定连接，所述第一锥齿轮(4205)的一侧啮合连接有第二锥齿轮(4206)，所述第二锥齿轮(4206)固定设有转轴(4207)，所述转轴(4207)的一端穿出限位板(4201)并固定设有摇杆。10.根据权利要求9所述的一种gip电路检测装置，其特征在于，所述摇杆上设有防滑套。
技术总结本申请提供了一种GIP电路检测装置，包括TFT特性测试仪器探针台和探针，探针位于TFT特性测试仪器探针台上，TFT特性测试仪器探针台的顶部设置有观测部，观测部与TFT特性测试仪器探针台之间设置有调节机构，调节机构用于调节观测部的高度，TFT特性测试仪器探针台的一侧分别设置有第一检测部和第二检测部，TFT特性测试仪器探针台、探针、第一检测部和第二检测部组合用于检测GIP电路。本申请通过设置的TFT特性测试仪器探针台，配合探针，可以扎破覆盖PI从而测试GIP Q点和G-out输出电路，通过观测部，可以观测探针测试点位，测试信号通过探针及信号线传入第二检测部，从而得到第一检测部信号输出波形判断该GIP电路是否存在异常。部信号输出波形判断该GIP电路是否存在异常。部信号输出波形判断该GIP电路是否存在异常。
技术研发人员：魏文浩 刘福知 彭绍辉
受保护的技术使用者：信利(仁寿)高端显示科技有限公司
技术研发日：2022.01.12
技术公布日：2022/7/5
